[发明专利]一种太赫兹泵浦-太赫兹探测时域光谱系统

权利要求书

1.一种太赫兹泵浦-太赫兹探测时域光谱系统，其特征在于，包括飞秒激光光源、第一分束镜、硅片和收集系统；飞秒激光光源产生飞秒激光，第一分束镜将飞秒激光分成第一光束和探测光束；所述第一光束和探测光束分别作为泵浦路和探测路的激光源；所述硅片收集所述泵浦路和探测路产生的太赫兹脉冲至所述收集系统；

所述泵浦路沿光路方向依次设置透射光栅、半波片和铌酸锂晶体；所述第一光束入射至透射光栅，之后透射光栅的衍射光经半波片后入射至所述铌酸锂晶体，铌酸锂晶体向外辐射第一太赫兹脉冲至所述硅片。

2.根据权利要求1所述的太赫兹泵浦-太赫兹探测时域光谱系统，其特征在于，还包括若干第一反射镜和成像系统；所述第一光束通过第一反射镜反射后入射至透射光栅，透明光栅出射的一级衍射光经半波片发生波前倾斜，经成像系统成像后入射至铌酸锂晶体上。

3.根据权利要求2所述的太赫兹泵浦-太赫兹探测时域光谱系统，其特征在于，进一步包括抛物面镜；所述抛物面镜接收所述第一太赫兹脉冲并将其反射至所述硅片。

4.根据权利要求2所述的太赫兹泵浦-太赫兹探测时域光谱系统，其特征在于，所述成像系统包括至少一个透镜。

5.根据权利要求2所述的太赫兹泵浦-太赫兹探测时域光谱系统，其特征在于，还包括第二分束镜，所述第二分束镜将所述探测光束分成第二光束和第三光束；所述第二光束用于探测太赫兹场的产生；所述第三光束用于驱动太赫兹时域脉冲的电光采样测量。

6.根据权利要求5所述的太赫兹泵浦-太赫兹探测时域光谱系统，其特征在于，还包括第二反射镜和第二碲化锌晶体；所述第二光束通过第二反射镜反射后入射至第二碲化锌晶体，所述第二碲化锌晶体向外辐射第二太赫兹脉冲；所述硅片将所述第二太赫兹脉冲反射至所述收集系统。

7.根据权利要求6所述的太赫兹泵浦-太赫兹探测时域光谱系统，其特征在于，还包括平面反射镜延时系统、第一碲化锌晶体、四分之一波片和沃拉斯顿棱镜和平衡放大光电探测器；所述第三光束依次经平面反射镜延时系统、第一碲化锌晶体、四分之一波片和沃拉斯顿棱镜后进入平衡放大光电探测器。

8.根据权利要求7所述的太赫兹泵浦-太赫兹探测时域光谱系统，其特征在于，所述平衡放大光电探测器接收所述第一太赫兹脉冲和第二太赫兹脉冲。

9.根据权利要求2所述的太赫兹泵浦-太赫兹探测时域光谱系统，其特征在于，所述第一反射镜的数量至少一个。

10.根据权利要求1所述的太赫兹泵浦-太赫兹探测时域光谱系统，其特征在于，所述收集系统中设置样品。