[发明专利]基于小批量数据集与深度学习算法的晶圆缺陷检测方法在审

专利信息
申请号: 201910465949.1 申请日: 2019-05-30
公开(公告)号: CN110197259A 公开(公告)日: 2019-09-03
发明(设计)人: 王进;祖佳跃;喻志勇 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G06N3/04 分类号: G06N3/04;G06T7/00;G01N21/88;G06K9/62
代理公司: 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 代理人: 吴秉中
地址: 315400 浙江省宁波市余*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 晶圆缺陷检测 数据集 小批量 尺寸归一化 数据预处理 训练样本集 彩色增强 传统图像 晶圆缺陷 晶圆图像 缺陷分类 人工构造 特征提取 学习策略 学习算法 因子定义 优化调整 分类器 归一化 检测 算法 迁移 图像 学习 分类 引入
【权利要求书】:

1.一种基于小批量数据集与深度学习算法的晶圆缺陷检测方法,包括如下步骤:

通过微距定焦镜头全局扫描得到矩形晶圆原始彩色图像;

将所述彩色图像进行数据增强得到足够数量级的数据集;

将所述晶圆图像添加高斯噪声,椒盐噪音,进行图像裁剪、翻转等操作扩增数据,降低深度学习需要大量原始数据的劣势;

将SSD原始算法与迁移学习相结合,除了在在VGG-16的原来网络层上提取特征之外,在conv8-2,conv9-2,conv19-2和pool-11层上提取,利用小尺度的卷积减少计算量,使用非对称卷积和并行化结构来优化Pooling操作。

2.如权利要求1所述的一种基于小批量数据集与深度学习算法的晶圆缺陷检测方法,其特征在于,所述添加高斯噪声(Guassian noise)指在图像上添加按照概率密度函数符合高斯分布的噪声。

3.如权利要求1所述的一种基于小批量数据集与深度学习算法的晶圆缺陷检测方法,其特征在于,所述图像裁剪采用随机裁剪,之后将图片回复原来的尺寸。

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