[发明专利]一种平面度测量控制方法以及设备

说明书

一种平面度测量控制方法以及设备，包括输送装置、沿输送装置输送方向设置的对角检测机构、横边检测机构、竖边检测机构，其特征在于对角检测机构包括位于输送装置上方的竖机架、设置在竖机架上的由动力带动以垂直于瓷砖输送方向相对移动的两对角距离检测器、对角接近开关，横边检测机构包括设置在输送装置两侧的横边距离检测器，竖边检测机构包括斜向着瓷砖输送方向且位于输送装置上方的斜机架、设置在斜机架上的由动力带动以斜向着瓷砖输送方向相对移动的两竖边距离检测器、竖边接近开关。本发明与已有技术相比，具有瓷砖传输过程中能准确进行四边及对角线检测的、检测效率高的、结构简单的优点。

技术领域：

本发明涉及一种陶瓷生产技术。

背景技术：

现有的瓷片平面度检测技术是在瓷砖输送过程中分别用数个沿直线导轨移动的激光位移传感器沿瓷砖的四边及对角连续检测瓷砖表面到激光位移传感器间的距离，依据距离参数获得相应的线段，依据各线段的平直度就能获得四边表面及对角表面的平整度，依据这些平整度就能判别瓷砖的变形情况。所采用的设备如专利201410797662.6所公开的，包括第一检测机构、第二检测机构、第三检测机构，通过第一检测机构的传感器组件以相对瓷砖运行方向向前倾斜的方向从第一检测机构的一端移动到另一端的速度与瓷砖前进的速度配合，实现检测瓷砖其中一边线及对角线的检测，通过第二检测机构的两边的传感器组件对瓷砖的两边的边线进行检测，通过第三检测机构的传感器组件以相对瓷砖运行方向向后倾斜的方向从第一检测机构的一端移动到另一端的速度与瓷砖前进的速度配合，实现检测瓷砖另一边线及另一对角线的检测，此种技术，由于第一检测机构、第三检测机构的传感器组件需要折返对边线或者对角线进行检测，受折返时的时间的延误，折返的检测起点不可能在瓷砖起始检测的角上，会偏移该瓷砖起始检测的角，从而导致位置上的偏差，最终影响瓷砖的平面度的ɑ评价。为此，本发明人又发明了瓷砖停止时，对瓷砖的四边及对角线进行检测的技术，但是，由于是在停止状态下进行，因此，会影响检测效率。

发明内容：

本发明的发明目的在于提供一种瓷砖传输过程中能准确进行四边及对角线检测的、检测效率高的、结构简单的平面度测量控制方法以及设备。

本发明平面度测量控制方法是这样实现的，瓷砖以可控的速度前行，垂直于瓷砖输送方向移动的两对角距离检测器以相应的移动速度相对移动，分别测量瓷砖两对角线到对角距离检测器间的距离，从而获得两组对角线距离数据，位于瓷砖两边的横边距离检测器分别检测经过的瓷砖的两横边到横边距离检测器的距离，从而获得两组横边距离数据，以一定角度且与瓷砖前行方向同向斜向着瓷砖前进方向以相应速度移动的两竖边距离检测器分别检测经过的瓷砖的两竖边到竖边距离检测器的距离，从而获得两组竖边距离数据，根据各组距离数据的变化，就能评判瓷砖表面的平面度。

本发明的平面度测量控制设备是这样实现的，包括输送装置、沿输送装置输送方向设置的对角检测机构、横边检测机构、竖边检测机构，对角检测机构包括位于输送装置上方的竖机架、设置在竖机架上的由动力带动以垂直于瓷砖输送方向相对移动的两对角距离检测器、对角接近开关，横边检测机构包括设置在输送装置两侧的横边距离检测器，竖边检测机构包括斜向着瓷砖输送方向且位于输送装置上方的斜机架、设置在斜机架上的由动力带动以斜向着瓷砖输送方向相对移动的两竖边距离检测器、竖边接近开关。

工作时，输送装置以可控速度Vc带动瓷砖前行，经过对角接近开关时，对角接近开关被触动，通过控制模块控制动力启动，使对角距离检测器以相应的移动速度Vc*Hs/Hh垂直于瓷砖输送方向移动，即沿瓷砖的对角线移动，获得对角线距离数据，瓷砖继续前行，经过横边距离检测器，横边距离检测器检测出横边线距离数据组，瓷砖继续前行，竖边接近开关被触动，通过控制模块控制动力启动，使竖边距离检测器以tan（ɑ）*Vc速度斜向着瓷砖输送方向移动，即沿瓷砖的竖边移动，获得竖边线距离数据，然后，两竖边距离检测器返回起始位置，以便检测下一块瓷砖。然后，对上述的数据组评判，就能获得瓷砖表面的平面度。