[发明专利]光电组件特性测量装置

权利要求书

1.一种光电组件特性测量装置，其特征在于，包含：

一物镜，设置于一第一光路径上，用以接收一第一待测光线，并将该第一待测光线转换成一第二待测光线；

一成像镜，设置于该第一光路径上，用以接收该第二待测光线，并将该第二待测光线转换成一第三待测光线；

一摄影镜头，设置于该第一光路径上，用以测量该第三待测光线的一光束特性；以及

一光程调整模块，设置于该第一光路径上，且在该第一光路径上位于该成像镜与该摄影镜头之间，该光程调整模块受控于一测试指令而相对于该成像镜移动，据以调整在该第一光路径上该成像镜和该摄影镜头的间隔为一第一光程或一第二光程；

该光程调整模块包含一镜面，该镜面用以反射该第三待测光线至该摄影镜头。

2.如权利要求1所述的光电组件特性测量装置，其特征在于，当该光程调整模块受控于该测试指令时，该镜面相对于该摄影镜头移动。

3.如权利要求1所述的光电组件特性测量装置，其特征在于，该摄影镜头测量该第三待测光线的该光束特性时，包含测量该第三待测光线的光束腰、发散角及数值孔径。

4.如权利要求1所述的光电组件特性测量装置，其特征在于，该光程调整模块受控于该测试指令而位移时，该成像镜和该摄影镜头的相对位置不变。

5.如权利要求1所述的光电组件特性测量装置，更包含一第一滤镜，设置于该第一光路径上且位于该物镜和该成像镜之间，用以减少该第二待测光线的光强度。

6.如权利要求1所述的光电组件特性测量装置，其特征在于，在该第一光路径上，该摄影镜头位于该成像镜的一出光侧焦平面。

7.如权利要求1所述的光电组件特性测量装置，其特征在于，该第一待测光线是由一雷射二极管射出，且在该第一光路径上，该雷射二极管是位在该物镜的一入光侧焦平面。

8.如权利要求1所述的光电组件特性测量装置，其特征在于，更包含：

一第一分光镜，设置于该第一光路径上，用以从该第二待测光线分光出一第四待测光线；以及

一发光度-电流-电压测试模块，用以基于该第四待测光线执行一发光度-电流-电压测试，据以判断一雷射二极管的一操作特性。