[发明专利]电子设备控制方法及装置在审

专利信息
申请号: 201910469331.2 申请日: 2019-05-31
公开(公告)号: CN112015291A 公开(公告)日: 2020-12-01
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 北京钛方科技有限责任公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 胡艳华;龙洪
地址: 100085 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 电子设备 控制 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种电子设备控制方法,其特征在于,所述方法包含:

通过贴设于电子设备的多个传感器接收外部触碰所述电子设备产生的弹性波信号,并将所述弹性波信号转换为电压信号;

根据所述电压信号分析获得触碰所述电子设备的触碰物体信息;

根据所述电压信号计算获得所述电压信号对应的特征信息;

根据所述触碰物体信息获得对应的预存特征向量,将所述特征信息与所述特征向量比较,根据所述比较结果获得预存控制指令控制所述电子设备。

2.根据权利要求1所述的电子设备控制方法,其特征在于,根据所述电压信号分析获得触碰所述电子设备的触碰物体信息包含:将所述电压信号在频域上各个频段的分量占比及在时域上的波形特征分别与预存的对应表比较,根据两者之间的相关系数获得最接近的触碰物体信息;根据所述最接近的触碰物体信息获得触碰所述电子设备的触碰物体信息。

3.根据权利要求1所述的电子设备控制方法,其特征在于,所述触碰物体信息至少包含指腹触碰信息、指关节触碰信息、物件触碰信息、指甲触碰信息。

4.根据权利要求1所述的电子设备控制方法,其特征在于,根据所述电压信号计算获得所述电压信号对应的特征信息包含:

当预设周期时间内,外部多次触碰所述电子设备时,根据所述电压信号提取对应触碰次数的多个比较特征向量;将多个比较特征向量中任一比较特征向量作为特征源并分别与其他比较特征向量比较,获得多个比较结果;根据多个比较结果生成所述电压信号对应的特征信息;

当预设周期时间内,外部仅一次触碰所述电子设备时,根据所述电压信号提取比较特征向量;将所述比较特征向量与预存特征向量比较,获得比较结果;根据比较结果生成所述电压信号对应的特征信息。

5.根据权利要求4所述的电子设备控制方法,其特征在于,根据所述触碰物体信息获得对应的预存特征向量,将所述特征信息与所述特征向量比较,根据所述比较结果获得预存控制指令控制所述电子设备包含:

将所述特征信息与所述特征向量比较,当所述特征信息中各比较结果均大于所述特征向量时,获得预存控制指令控制所述电子设备。

6.根据权利要求5所述的电子设备控制方法,其特征在于,当所述特征信息中各比较结果均大于所述特征向量时,获得预存控制指令控制所述电子设备还包含:当所述特征信息中各比较结果均大于所述特征向量时,根据所述特征信息中比较结果的数量获得对应的预存控制指令控制所述电子设备。

7.根据权利要求5所述的电子设备控制方法,其特征在于,当所述特征信息中各比较结果均大于所述特征向量时,获得预存控制指令控制所述电子设备还包含:当所述特征信息中各比较结果均大于所述特征向量时,根据所述电压信号的能量值获得对应的预存控制指令控制所述电子设备;其中所述电压信号的能量值为所述比较特征向量的能量值的累加值或平均值。

8.根据权利要求1所述的电子设备控制方法,其特征在于,根据所述电压信号计算获得所述电压信号对应的特征信息还包含:对所述电压信号进行周期性分析,当所述电压信号的周期性符合预设条件时;通过将所述电压信号中周期性信号分量去除获得有效信号,并根据所述有效信号提取获得所述电压信号对应的特征信息。

9.一种电子设备控制装置,其特征在于,所述装置包含处理模块、分析模块和至少一个传感器;

所述传感器贴设于电子设备上,用于接收外部触碰所述电子设备产生的弹性波信号,并将所述弹性波信号转换为电压信号;

所述分析模块用于根据所述电压信号分析获得触碰所述电子设备的触碰物体信息;以及根据所述电压信号计算获得所述电压信号对应的特征信息;

所述处理模块用于根据所述触碰物体信息获得对应的预存特征向量,将所述特征信息与所述特征向量比较,根据所述比较结果获得预存控制指令控制所述电子设备。

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