[发明专利]一种用于测试内存组件的测试室以及测试方法

权利要求书

1.一种用于测试内存组件的测试室，所述测试室支持冷却和加热，其特征在于，所述测试室包括：

内存组件测试夹具，连同内存组件暴露在室内的温度应力下；

至少一个温度传感器嵌入室内，用于测量室内温度；

外部控制器，具有至少一个输入并控制至少两个输出；所述输入为温度传感器信号；所述输出为一个输出控制用于冷却介质的阀门，以及至少一个输出控制加热元件的阀门；

所述加热元件是嵌入绝缘体中的电加热元件，所述绝缘体位于测试室底部与应用板之间，测试室的底部与应用板通过绝缘体进行绝缘，加热元件与应用连接器之间的距离应小于5cm，或者加热元件是一个加热的空气流，传导到靠近测试室的应用板底部；

所述测试室在测试时放置在应用板上，内存组件在测试室内，将内存组件连接到应用板。

2.根据权利要求1所述的一种用于测试内存组件的测试室，其特征在于，所述测试室建造的方式为至少一部分测试室由至少两层的分层结构构成，至少两层之间的间隙用于流动至少一种介质，所述介质为冷却或加热介质。

3.根据权利要求2所述的一种用于测试内存组件的测试室，其特征在于，所述测试室分层结构中的每层均使用隔热材料，所述隔热材料为硬质环氧泡沫。

4.根据权利要求1所述的一种用于测试内存组件的测试室，其特征在于，应用板大于90％的体积在测试室之外。

5.根据权利要求4所述的一种用于测试内存组件的测试室，其特征在于，所述加热元件为室内的加热金属丝，没有任何风扇或其他装置来按压或移动空气，或者加热元件为室外的加热金属丝，使用冷空气或室温空气流并由控制器控制以在进入室内之前使空气在该加热的线周围通过。

6.根据权利要求4所述的一种用于测试内存组件的测试室，其特征在于，在冷却时，冷媒是干燥冷空气，通过向干燥空气中加入液氮或液态二氧化碳进行预混合，这种冷却的干燥空气被引导到测试室附近，并通过受控阀门注入室内。

7.根据权利要求1所述的一种用于测试内存组件的测试室，其特征在于，所述测试室内部面积不超过内存组件和测试夹具的外部总尺寸的50％。

8.一种利用权利要求1-7任意一项所述的测试室进行内存组件测试的测试方法，其特征在于，所述方法包括以下操作：

利用所述测试室，测试室内存在至少一个DRAM或至少一个FLASH组件，其未焊接到任何PCB或其他载体或夹具上，且在此类DRAM或FLASH或应用板上存在测试程序，用于测试此类DRAM或FLASH，以及测试程序通过与PID控制器或控制电路的相互作用下来控制测试温度，以根据测试进度控制室内的测试温度。

9.根据权利要求8所述的一种利用测试室进行内存组件测试的测试方法，其特征在于，利用单个控制器用于控制多个测试室；所有测试室同步操作或者异步操作。