[发明专利]基于谐振频率自动搜索机制的石英晶片测控方法有效

专利信息
申请号: 201910470944.8 申请日: 2016-12-23
公开(公告)号: CN110125793B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 潘凌锋;郭彬;陈一信;陈浙泊;颜文俊;林斌 申请(专利权)人: 浙江大学台州研究院
主分类号: B24B37/005 分类号: B24B37/005;B24B49/00
代理公司: 杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙) 33283 代理人: 董世博
地址: 318001 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 基于 谐振 频率 自动 搜索 机制 石英 晶片 测控 方法
【权利要求书】:

1.基于谐振频率自动搜索机制的石英晶片测控方法,其特征在于,包括如下步骤:初始化数据步骤、谐振频率自动搜索流程步骤、基于扫频数据机制的跟踪测频流程步骤、惯性导航流程步骤;

101)初始化数据设置和检测步骤:对异常监控、统计控制、测频策略和研磨程序的参数进行初始化设置,并对研磨机控制模块进行自检,确保设备控制正常;

102)谐振频率自动搜索流程步骤:步骤101)设置后,通过谐振频率自动搜索、自动搜索频率切换参数设置和自动搜索完成数据处理,来实行自动搜索;谐振频率自动搜索包括数据初始化、测频和扫频参数设置,在自动搜索中DDS数据采集未完成,则继续进行自动搜索谐振频率,进行DDS数据采集,如果采集完成,则进行频率切换时间是否到达的判断,如果到达,且当前搜索频段的起始频率已经小于石英晶片设置的研磨起始频率,则进入自动搜索完成数据处理流程,否则进行自动搜索频率切换参数设置流程,对参数进行重新设置,继续数据采集,如果未到达,则继续进行数据采集;

103)跟踪测试流程步骤:通过步骤102)自动搜索成功后,进入跟踪测试,其包括进行参数初始化,扫频参数设置、进行DDS扫频,扫频数据的处理,数据的进一步分析处理和对参数的重新设置;

数据的进一步分析处理包括对获取的数据与设置的监控参数进行比对,其包括对频率散差、研磨速率和研磨圈数的判断,并与目标频率进行比对,其中在指定圈数内测到的谐振次数小于设定的次数,提示“测频异常”,并进入惯性导航流程;

104)惯性导航流程步骤:在步骤103)处理异常数据时启动惯性导航,首先根据石英晶片当前研磨速度得到DDS扫频的起始频率和截止频率,然后根据得到的DDS扫频的起始频率和截止频率分别更新峰值约束、搜索宽度、扫频幅度、扫频步进参数,所述扫频起始频率为当前扫频频率值加上谐振频率速度与指定圈数的乘积值,用于模拟参数弥补部分数据的缺失;参数更新完成后将DDS的扫频参数写入DDS,返回步骤103)中的DDS扫频。

2.根据权利要求1所述基于谐振频率自动搜索机制的石英晶片测控方法,其特征在于,所述步骤101)中的参数包括异常监控参数、统计控制参数、测频策略参数、研磨程序参数,用于在线测频过程中的各种异常控制和统计控制。

3.根据权利要求1所述基于谐振频率自动搜索机制的石英晶片的测控方法,其特征在于,所述步骤103)中扫频数据的处理包括对紧急暂停的操作,接着对DDS扫频数据采集是否完成的判断,并根据跟踪测频谐振频率搜索方法来获得是否搜索成功的判断,如果以上判断为无紧急暂停的操作、DDS扫频数据采集完成,但搜索成功判断为不成功,则进入数据的进一步分析处理,若无紧急暂停的操作、DDS扫频数据采集完成,搜索成功判断为成功,则对峰峰值是否大于约束值进行判断,判断为否,则进入数据的进一步分析处理,判断为是,则由谐振频率值判断是不是在频宽约束范围内,如果判断为不是,则进入数据的进一步分析处理,如果判断为是,则将谐振频率存入数组,判断是否收到圈数信息,如果收到圈数信息,则计算散差并判断圈数是否大于速率统计约束值,如果未收到圈数信息,则直接判断圈数是否大于速率统计约束值,如果是则通过最小二乘法获取速率再计算频率平均值,如果不大于速率统计约束值,则跳过获取速率,直接计算频率平均值,并转向数据的进一步分析处理。

4.根据权利要求1所述基于谐振频率自动搜索机制的石英晶片测控方法,其特征在于,所述步骤103)、步骤104)中DDS扫频方式为从起始频率扫频到截止频率,再从截止频率扫频到起始频率,这样周而复始。

5.根据权利要求1所述基于谐振频率自动搜索机制的石英晶片测控方法,其特征在于,所述参数的修正包括扫频参数的修改和在线测频实时数据发送时间,如果修改扫频参数设置则包括扫频起始频率、扫频截止频率、扫频幅度、扫频步进、扫频速度;搜索宽度、峰值约束和频宽约束,这些参数为测频参数,用于搜索谐振频率,如果不修改扫频参数设置则判断在线测频实时数据发送时间,如果到达指定时间则获取谐振频率平均值,并发送谐振频率平均值、散差、研磨速率,如果未到达指定时间则回到跟踪测试流程的数据采集的处理。

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