[发明专利]大型天线波束波导反射面的安装调整方法有效

专利信息
申请号: 201910473514.1 申请日: 2019-05-31
公开(公告)号: CN110233355B 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: 李东伟;阎宏涛;靖猛;郭军;汪广瑞 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十九研究所
主分类号: H01Q19/19 分类号: H01Q19/19;G01B21/00
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 陈星
地址: 710000 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 大型 天线 波束波导 反射 安装 调整 方法
【说明书】:

发明提出一种大型天线波束波导反射面的安装调整方法,属于航天测控技术领域,该方法为通过空间点位检测装置,对反射镜面进行检测,检测完成后在适当位置做转站点,然后将检测装置放置另一反射镜适当位置,采集前一组转站点恢复坐标,再对该处反射镜进行检测,依次检测其它反射镜面。完成各反射面检测采点工作后,对检测后的点数据进行三维建模并与理论空间反射镜位置进行对比,分析得出位置误差,然后根据误差情况对镜面姿态进行调整纠正后再进行复测,最终达到位置度指标要求。本专有技术解决了现有技术中对有隔挡目标反射镜之间不能直接测量并且无法将检测面阵与理论位置统一坐标的难题,实现了空间大型反射面阵之间的精确定位。

技术领域

本发明属于航天测控技术领域,具体为一种大型天线波束波导反射面的安装调整方法,通过空间点位检测装置在不同位置进行转站以恢复初始坐标系,对大型天线波束波导反射面系统进行高精度检测、定位。

背景技术

随着当前国际上大型、高精度、大功率天线技术的不断发展,对天线微波传输系统提出了新的更高要求,波束波导系统替代了传统的馈源传输系统来进行信号传输,大型波束波导筒内部镜面尺寸之间定位关系要求更加严格。由于屏蔽筒内镜面精度高、尺寸紧凑、镜面之间有隔挡,多次反射面测量之间难以统一基准,因此传统的检测方法无法实现大型天线波束波导反射面的安装调整,急需一种针对该领域的新的检测方法来实现波束波导镜面之间精确定位。

现有检测技术对大型天线波束波导反射面的安装调整存在一些不足,其主要表现为两个方面:一方面不能对有隔挡的两曲面进行同时检测,例如背对背的两曲面无法同时检测到两个工作曲面。另一方面由于检测位置较多无法统一到同一个坐标系下与测量反射面理论模型进行比较。

发明内容

本发明针对上述现有技术的不足,提出了一种大型天线波束波导反射面的安装调整方法,该方法以空间点位检测装置为测量工具,首先根据检测需要建立初始坐标系,然后对实际单个(或多个)反射镜面进行检测,检测完成后在适当位置做基准点(转站点),然后将检测装置放置另一反射镜适当位置,采集前一组基准点(转站点)恢复坐标,再对该处反射镜进行检测,依次检测其它反射镜面。在完成各反射面检测采点工作后,对检测后的点数据采用检测数据建模及分析系统进行三维建模并与理论空间反射镜位置进行对比,分析得出位置误差和各方向调整量,然后根据误差调整量情况对镜面姿态进行调整纠正后再进行复测,最终达到位置度指标要求。

基于上述原理,本发明的技术方案为:

所述一种大型天线波束波导反射面的安装调整方法,其特征在于:包括以下步骤:

步骤1:利用空间点位检测装置在天线主反射面的基准位置处建立基准坐标系;

步骤2:对天线波束波导反射镜进行分组,将能够被安装在天线内部某一位置处的空间点位检测装置同时观察到的至少两个反射镜作为一组;

步骤3:从最接近天线主反射面基准位置的一组反射镜开始,沿天线波束波导通道方向,对每组反射镜采用以下步骤实现位置调整:

步骤3.1:在该组反射镜附近的天线刚体结构上建立至少3个转站点;所述转站点能够被前一组反射镜位置调整时所设置的空间点位检测装置观察并检测到其在该空间点位检测装置坐标系下的坐标;若该组反射镜为第一组反射镜,则所述转站点能够被步骤1中处于天线主反射面基准位置处的空间点位检测装置观测并检测到其在基准坐标系下的坐标;

步骤3.2:移动空间点位检测装置至该组反射镜附近的位置,使得空间点位检测装置能够同时观察到该组反射镜和步骤3.1建立的转站点;

步骤3.3:利用空间点位检测装置对转站点进行位置检测,得到所述转站点在当前空间点位检测装置坐标系下的坐标,然后依据步骤3.1中得到的所述转站点在基准坐标系下的坐标,将当前空间点位检测装置坐标系恢复到基准坐标系;

步骤3.4:利用空间点位检测装置检测该组反射镜中每个反射镜镜面上各至少3个点在基准坐标系下的坐标;

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