[发明专利]一种雾霾条件下地表太阳短波辐射计算方法有效
申请号: | 201910476705.3 | 申请日: | 2019-06-03 |
公开(公告)号: | CN110222301B | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
发明(设计)人: | 胡斯勒图;赫杰;马润;尚华哲 | 申请(专利权)人: | 中国科学院遥感与数字地球研究所 |
主分类号: | G06F17/10 | 分类号: | G06F17/10 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 马骥;南霆 |
地址: | 100101 北京市朝阳区大屯路甲*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 条件下 地表 太阳 短波 辐射 计算方法 | ||
1.一种雾霾条件下地表太阳短波辐射计算方法,其特征在于,包含以下步骤:
提取卫星的观测像元,去掉有云的像元图像;
用第一查找表计算地表太阳短波辐射,作为第一辐射值;所述第一查找表,包含太阳天顶角、气溶胶光学厚度、气溶胶类型和对应的地表太阳短波辐射的数据;
读取卫星的地表太阳短波辐射数据,为第二辐射值;与所述第一辐射值对比;若误差大于第一阈值,则此处的像元为校正像元;
对所述校正像元用参数化方法计算地表太阳短波辐射,为第三辐射值。
2.根据权利要求1所述地表太阳短波辐射计算方法,其特征在于,用第一查找表之前,还包含步骤:
计算像元的地表反射率,用第二查找表计算出气溶胶厚度和气溶胶类型;所述第二查找表,包含表观反射率均值、地表反射率和对应的气溶胶厚度、气溶胶类型。
3.根据权利要求1所述地表太阳短波辐射计算方法,其特征在于,在对校正像元用参数化方法计算第三辐射值后,还包含以下步骤:
提取校正像元的第三辐射值和第一辐射值进行对比得到调整值,用所述调整值对第一辐射值数据进行校准。
4.根据权利要求1~3任意一项所述地表太阳短波辐射计算方法,其特征在于,
对第一观测时刻的校正像元,计算第二观测时刻的第一辐射值,如果误差仍大于第一阈值,则以第一观测时刻所述校正像元的第三辐射值为基础,根据第一查找表,得出更新的太阳天顶角、气溶胶厚度和气溶胶类型;第一观测时刻和第二观测时刻之间的间隔小于第二阈值。
5.根据权利要求1~3任意一项所述地表太阳短波辐射计算方法,其特征在于,
对第一观测时刻的校正像元,计算第二观测时刻的第一辐射值,如果误差仍大于第一阈值,则以第一观测时刻所述校正像元的第三辐射值作为第二观测时刻所述校正像元的地表太阳短波辐射;第一观测时刻和第二观测时刻之间的间隔小于第二阈值。
6.根据权利要求1~3任意一项所述地表太阳短波辐射计算方法,其特征在于,所述参数化方法采用ERA-INTERIM数据,参数化方法的计算参数包含:地表反射率、大气压、总臭氧含量、可降水量、气溶胶厚度和气溶胶类型。
7.根据权利要求1~3任意一项所述地表太阳短波辐射计算方法,其特征在于,所述第一查找表是基于大气辐射传输模式RSTAR构建的查找表。
8.根据权利要求1~3任意一项所述地表太阳短波辐射计算方法,其特征在于,所述第一阈值为30W/m2。
9.根据权利要求1~3任意一项所述地表太阳短波辐射计算方法,其特征在于,所述太阳天顶角的参数范围为1-90度,间隔1度;
所述气溶胶光学厚度的参数范围为0-3km,间隔为0.5km。
10.根据权利要求1~3任意一项所述地表太阳短波辐射计算方法,其特征在于,通过葵花-8的二级云识别产品判断观测区域是晴空还是有云。
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