[发明专利]一种隐身薄膜及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910478388.9 申请日: 2019-06-03
公开(公告)号: CN110275228B 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 郭晓康;郭春才;张志良;朱小军;徐承进 申请(专利权)人: 合肥昊泰新材料科技有限责任公司
主分类号: G02B1/115 分类号: G02B1/115
代理公司: 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 代理人: 汪贵艳
地址: 230000 安徽省合肥市经开区桃花工*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 隐身 薄膜 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种隐身薄膜,其特征在于,其由内至外依次为基材、内介质层、反射层和外介质层,其中,所述外介质层为具有高折射率的氧化物,其折射率为2.0~3.0,所述具有高折射率的氧化物是ZnO、Nb2O5、Ta2O5、TiO2中的一种;所述内介质层为具有低折射率的氧化物,其折射率为1.0~1.8,所述具有低折射率的氧化物是Al2O3、SiO2中的一种;

所述隐身薄膜在可见光波段0.38~0.76μm平均透射率为85%~90%,最大透过率为96%;

在近红外波段0.76~1.2μm平均反射率为72%~76%;

在短波红外波段1.2~2.5μm平均反射率为84%~88%;

在中远红外波段3~5μm和8~14μm平均反射率为92%~97%。

2.如权利要求1所述的隐身薄膜,其特征在于,所述基材为玻璃、高分子材料中的一种。

3.如权利要求2所述的隐身薄膜,其特征在于,所述高分子材料为PET、TPU、PVC、BOPP、PI透明薄膜中的一种。

4.如权利要求1所述的隐身薄膜,其特征在于,所述外介质层的厚度为10nm~70nm。

5.如权利要求1所述的隐身薄膜,其特征在于,所述内介质层的厚度为10nm~70nm。

6.如权利要求1所述的隐身薄膜,其特征在于,所述反射层由Ag、Al、Au、Cu中的一种或两种以上混合构成,所述反射层的厚度为10~30nm。

7.一种如权利要求1~6任一项所述的隐身薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

采用镀膜技术在所述基材上依次沉积所述内介质层、所述反射层和所述外介质层,制得所述隐身薄膜。

8.如权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述镀膜技术为热蒸发镀膜或磁控溅射真空镀膜。

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