[发明专利]一种荧光试剂检测装置及其检测方法

说明书

本发明涉及荧光试剂检测领域，具体涉及一种荧光试剂检测装置及其检测方法，包括激发光组件、被测物、移动光路部件和接收部件，激发光组件、接收部件和被测物均固定设置，激发光组件发射的光线通过移动光路部件反射至被测物，被测物反射的光线通过移动光路部件反射至接收部件，移动光路部件带动光线移动，本发明可以用相对较小的空间实现多被测物的检测，通过固定激发光组件和被测物，被测物可以携带更多的被测标记，可以增大被测标记，可以根据不同的被测物选择不同的激发光源以及激发光斑，从而实现被测标记与测试结果的对应关系，更进一步来实现一套检测系统能同时检出更多的被标记物。

技术领域

本发明涉及荧光试剂检测领域，具体涉及一种荧光试剂检测装置及其检测方法。

背景技术

现有的荧光试剂检测设备主要采用两种方式做检测，一种是被测物位置固定同时检测装置固定，形成一种完全固定式的检测（方法一）；一种是被测物和检测装置形成一种相对位移，比如被测物固定，由检测装置移动，检测所有被测物的标记，或者是检测装置固定，被测物由机械结构带动实现相对位移，从而实现检测装置完成对被测物所有标记信号的检测（方法二）。

方法一的缺点在于，被测物有多少个标记检测位就需要由多少个检测装置分别与之对应，受限于检测装置的物理尺寸，对于具体的被测物存在信号标记数量的限制。同时由于各标记信号由不同的检测装置分别检测，而各检测装置的一致性本身存在误差，由此会造成检测结果的误差叠加，影响最终检验结果。方法二则是由于存在相对位移，则由此产生的空间需求会比较大，不利于小型化，同时位移过程中的相对平稳度直接影响检测结果，最终的检测结果受不可控因素影响较多，方法一与方法二由于被测标记的发光干扰会对于相对长度上的被测标记有数量限制。

基于上述已有技术，本申请人作了持久而有益的探索与反复的设计，并且进行了非有限次数的试验，终于找到了解决上述技术问题的办法并且形成了下面将要介绍的技术方案。

发明内容

为解决现有技术的问题，本发明提供了一种荧光试剂检测装置及其检测方法。

为了达到上述目的，本发明采用以下技术方案：一种荧光试剂检测装置，包括激发光组件、被测物、移动光路部件和接收部件，激发光组件、接收部件和被测物均固定设置，激发光组件发射的光线通过移动光路部件反射至被测物，被测物反射的光线通过移动光路部件反射至接收部件，移动光路部件带动光线移动。

所述激发光组件与窄带滤镜一对应设置，接收部件与窄带滤镜二对应设置。

所述移动光路部件包括凹面镜、棱镜和摆镜，凹面镜上设有棱镜，凹面镜、棱镜和激发光组件对应设置，摆镜设置于凹面镜、棱镜的一侧，凹面镜、棱镜和摆镜均设置于被测物上部，凹面镜、棱镜与摆镜之间相对移动。

所述激发光组件选用激发光器或LED。

所述摆镜与旋转部件一连接，所述旋转部件一选用磁环、电机、压电陶瓷、电磁圈。

所述凹面镜与旋转部件二连接，所述旋转部件二选用磁环、电机、压电陶瓷、电磁圈。

所述被测物选用试剂条，被测物上设置有被测物质一和被测物质二。

所述凹面镜选用半反透镜面。

所述接收部件选用信号接收器。

所述的荧光试剂的检测方法，包括如下步骤：

1）激发光组件准直后发出激发光源线一，激发光源线一照射棱镜、凹面镜，再通过凹面镜反射出激发光源线二，激发光源线二照射至摆镜，摆镜反射出激发光源线三，激发光源线三照射至被测物质一，被测物质一经过激发光源线三激发后产生反射光线一，反射光线一照射至摆镜，摆镜反射出反射光线二，反射光线二照射至棱镜、凹面镜，凹面镜反射出反射光线三，反射光线三照射并穿过窄带滤镜二进入信号接收器。