[发明专利]电子装置和半导体封装结构的制造方法在审
申请号: | 201910480090.1 | 申请日: | 2019-06-04 |
公开(公告)号: | CN110739222A | 公开(公告)日: | 2020-01-31 |
发明(设计)人: | 方绪南;陈建庆 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L21/56;H01L23/485;H01L21/60 |
代理公司: | 11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 蕭輔寬 |
地址: | 中国台湾高雄市楠梓*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 底面 绝缘层 顶面 金属层 电连接元件 开口 电子装置 共平面 晶种层 界定 延伸 | ||
一种电子装置包括绝缘层、金属层和至少一个电连接元件。所述绝缘层具有顶面和与所述顶面相对的底面,并且界定开口,所述开口延伸于所述顶面和所述底面之间。所述金属层设置于所述绝缘层的所述开口中,并且具有顶面和与所述顶面相对的底面。所述金属层的所述底面与所述绝缘层的所述底面实质上共平面。所述电连接元件通过晶种层附接到所述金属层的所述底面。
技术领域
本公开涉及电子装置和半导体封装结构的制造方法,并且涉及包括附接于金属层的电连接元件的电子装置,和包括所述电子装置的半导体封装结构的制造方法。
背景技术
半导体芯片可与大量电子元件集成,以实现强大的电气性能。相应地,所述半导体芯片具备大量输入/输出(input/output,I/O)连接件。为了在实现具备大量I/O连接件的半导体芯片的同时,保持小的半导体封装,用于外部连接的封装衬底的接合垫密度可对应地加大。然而,在这种实施方式中,如何将焊球可靠且准确地植设于封装衬底的接合垫上,是值得关注的问题。另外,焊球植设工序(solder ball planting process)是在模封工序(molding process)之后及单分工序(singulation process)之前进行。然而,在模封工序之后,半成品会发生翘曲和收缩,尤其是当半成品具有较大尺寸时,焊球植设工序的难度会增加。
发明内容
在一些实施例中,一种电子装置包括绝缘层、金属层和至少一个电连接元件。所述绝缘层具有顶面和与所述顶面相对的底面,并且界定开口,所述开口延伸于所述顶面和所述底面之间。所述金属层设置于所述绝缘层的所述开口中,并且具有顶面和与所述顶面相对的底面。所述金属层的所述底面与所述绝缘层的所述底面实质上共平面。所述电连接元件通过晶种层附接于所述金属层的所述底面。
在一些实施例中,一种电子装置包括绝缘层、金属层和至少一个电连接元件。所述绝缘层具有顶面和与所述顶面相对的底面,并且界定开口,所述开口延伸于所述顶面和所述底面之间。所述金属层设置于所述绝缘层的所述开口中。所述电连接元件附接于所述金属层,并且具有顶面和与所述顶面相对的底面。所述电连接元件的所述顶面与所述绝缘层的所述底面实质上共平面。
在一些实施例中,一种半导体封装结构的制造方法,包括:(a)提供载体,所述载体具有第一表面,并在所述第一表面上界定多个开口;(b)形成导电材料于所述载体的所述开口中;(c)形成布线结构于所述载体和所述导电材料上;(d)电连接至少一个半导体裸片于所述布线结构;(e)形成封装体以覆盖所述至少一个半导体裸片;和(f)移除所述载体。
附图说明
当结合附图阅读时,从以下具体实施方式容易地理解本公开的一些实施例的各方面。应注意,各种结构可能未按比例绘制,且各种结构的尺寸可出于论述的清楚起见而任意增大或减小。
图1显示本公开的一些实施例的电子装置的剖视图。
图2显示图1中区域“A”的放大视图。
图3显示本公开的一些实施例的电子装置的剖视图。
图4显示本公开的一些实施例的电子装置的剖视图。
图5显示本公开的一些实施例的电子装置的剖视图。
图6显示图5中区域“B”的放大视图。
图7显示本公开的一些实施例的电子装置的剖视图。
图8显示本公开的一些实施例的电子装置的剖视图。
图9显示本公开的一些实施例的电子装置的剖视图。
图10显示图9中区域“C”的放大视图。
图11显示本公开的一些实施例的电子装置的剖视图。
图12显示本公开的一些实施例的电子装置的剖视图。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造