[发明专利]可变保持时间模式分析方法、装置、设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种可变保持时间模式分析方法，其特征在于，所述方法包括：

依次对存储器中的各存储单元进行预设测试次数的保持时间测试，每次所述保持时间测试包括：

获取测试数据图案；

按照所述测试数据图案，依次对各所述存储单元进行预设读写次数的读写操作，以分别获得每次所述读写操作的各所述存储单元的测试结果，每次所述读写操作对应于不同的暂停时间；

针对每个所述存储单元，根据所述测试结果及其对应的暂停时间获得每次保持时间测试的保持时间，根据所述保持时间及对应的所述保持时间测试的次数，获得相应存储单元的可变保持时间图像；以及

通过模式识别的方法，对各所述存储单元的所述可变保持时间图像进行分类，以获得各所述存储单元的可变保持时间的模式类型；根据获得的各所述存储单元的可变保持时间的模式类型，对各类型的存储单元数量或分布进行统计分析，以追溯所述存储器发生缺陷的原因。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试数据图案包含多个目标数据，每个所述目标数据对应于一个所述存储单元；按照所述测试数据图案，依次对各所述存储单元进行预设读写次数的读写操作包括：

在每次所述读写操作中，按照所述测试数据图案在各所述存储单元中写入相应的目标数据；

暂停预设的所述暂停时间；

分别从各所述存储单元中读出结果数据；

当一个所述存储单元写入的所述目标数据与所述结果数据相同时，确定该存储单元本次读写操作的所述测试结果为通过测试；当一个所述存储单元写入的所述目标数据与所述结果数据不相同时，确定该存储单元本次读写操作的所述测试结果为未通过测试；以及

记录并存储各所述存储单元每次读写操作的所述测试结果。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述针对每个所述存储单元，将各所述保持时间测试中的各所述测试结果，转换为相应存储单元的可变保持时间图像包括：

在每次所述保持时间测试中，按照所述预设读写操作次数的所述读写操作的时间顺序，确定出第一个未通过测试的测试结果对应的有效暂停时间为该存储单元在该次所述保持时间测试中获取的保持时间；以及

根据所述保持时间及对应所述保持时间测试的次数，获得相应存储单元的可变保持时间图像。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设读写次数的读写操作对应的暂停时间分别为：t1,t2,t3,……,tM，其中t1＝1*a,t2＝2*a,t3＝3*a,......,tM＝M*a，a为预设常量，M为大于0的整数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述通过模式识别的方法，对各所述存储单元的所述可变保持时间图像进行分类，以获得各所述存储单元的可变保持时间的模式类型之后，所述方法还包括：根据获得的各所述存储单元的可变保持时间的模式类型，对所述存储器进行缺陷分析。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述模式识别的方法包括：聚类分析法。

7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述存储器为动态随机存储器。