[发明专利]深度的检测方法、装置和系统

权利要求书

1.一种深度的检测方法，其特征在于，包括：

控制依次发射多种调制光，任意两种所述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种所述调制光的频率均不同，多种所述调制光中，频率较大的所述调制光的振幅小于频率较小的所述调制光的振幅；

根据多种所述调制光获取多个相位差，所述相位差为所述调制光的相位和对应的反射光的相位的差，所述反射光为所述调制光经过被测对象反射形成的；

根据多个所述相位差计算所述被测对象的深度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，各种所述调制光的发射时间段大于或等于100T，其中，T为对应的所述调制光的周期，不同的所述调制光对应的T相同或者不同，获取各所述相位差包括：

在所述反射光的每个周期内以预定时间间隔t接收各种所述反射光至少三次，T/4≤t≤T/3；

根据接收的至少三次各种所述反射光计算所述相位差。

3.根据权利要求1或2中所述的方法，其特征在于，根据多个所述相位差计算所述被测对象的深度，包括：

根据各所述相位差计算对应的一组预测深度，得到多组所述预测深度，各组所述预测深度包括多个不同的预测深度，且任意两个所述预测深度之间的差值为nλ/2，其中，n为正整数；

比较各组所述预测深度，将多组预测深度中相同预测深度作为所述被测对象的深度。

4.根据权利要求1或2中所述的方法，其特征在于，

在获取多个所述相位差之前，所述方法还包括：获取在时间上相邻的任意两种所述调制光的振幅的第一比值以及对应的两种所述反射光的振幅的第二比值，

在所述第一比值与所述第二比值的差值在预定范围内的情况下，根据所述调制光和对应的所述反射光获取所述相位差。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

在获取多个所述相位差之前，所述方法还包括：

在所述第一比值与所述第二比值的差值不在所述预定范围内的情况下，调节所述调制光的频率和振幅中的一个。

6.一种深度的检测装置，其特征在于，包括：

控制单元，用于控制依次发射多种调制光，任意两种所述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种所述调制光的频率均不同，多种所述调制光中，频率较大的所述调制光的振幅小于频率较小的所述调制光的振幅；

获取单元，用于根据多种所述调制光获取多个相位差，所述相位差为所述调制光的相位和对应的反射光的相位的差，所述反射光为所述调制光经过被测对象反射形成的；

计算单元，用于根据多个所述相位差计算所述被测对象的深度。

7.一种深度的检测系统，其特征在于，包括：

光源装置，用于依次发射多种调制光，任意两种所述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种所述调制光的频率均不同，多种所述调制光中，频率较大的所述调制光的振幅小于频率较小的所述调制光的振幅；

接收装置，用于接收多种所述调制光经被测对象反射形成的反射光；

处理装置，与所述接收装置电连接，所述处理装置用于根据多种所述调制光以及对应的所述反射光的相位差计算所述被测对象的深度。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述光源装置包括：

光源，用于发射预定光；

调制单元，位于所述光源的一侧，所述调制单元用于所述预定光进行调制，得到多种所述调制光。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述光源装置还包括：

定时器，与所述调制单元电连接，所述定时器用于控制所述调制单元的工作。

10.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述光源为红外VCSEL激光器。