[发明专利]倍频组件调试装置及激光器

说明书

本发明涉及固体激光器技术领域，尤其是涉及一种倍频组件调试装置及激光器。倍频组件调试装置包括连接座和调节件；连接座与倍频晶体座的连接部相连接，倍频晶体座用于放置倍频晶体并转动连接于倍频大底座上；调节件包括固定端和伸缩端，调节件固定设置于连接件的侧部，通过调节件的伸缩端的伸长或缩短，能够施力于连接座，以推动或拉动连接座和倍频晶体座发生偏转，从而带动倍频晶体座上的倍频晶体发生偏转，改变倍频晶体的俯仰角，并通过精确调节伸缩端伸长或缩短的长度，能够精确调节连接座和倍频晶体偏转的角度。同时，通过调节件的伸缩端也能够对倍频晶体座进行定位，保证倍频晶体在工作过程中不会发生偏转而影响倍频组件的正常工作。

技术领域

本发明涉及固体激光器技术领域，尤其是涉及一种倍频组件调试装置及激光器。

背景技术

现有的倍频应用技术，通常采用调节倍频晶体的俯仰角和改变倍频晶体的温度优化输出的光功率。现有固体激光器制造商大部分通过使用工具或者夹具进行摆动倍频晶体的俯仰角来调试输出功率，由于基本是依靠手法去进行调试，无法将倍频晶体非常精密的优化到最佳俯仰角。

发明内容

本发明的目的在于提供一种倍频组件调试装置及激光器，以在一定程度上解决现有技术中倍频晶体的俯仰角调节精度差的技术问题。

本发明提供了一种倍频组件调试装置，包括连接座和调节件；所述连接座与倍频晶体座的连接部相连接；所述调节件设置于所述连接座的侧部，且所述调节件的一端为固定端，另一端为伸缩端；所述伸缩端能够施力于所述连接座，以推动或拉动所述连接座和所述倍频晶体座发生偏转。

进一步地，所述连接座的两侧均设置有所述调节件，且两侧的所述调节件的施力方向不同。

进一步地，所述倍频晶体座的数量为两个，所述连接座的数量也为两个，两个所述连接座分别与两个所述倍频晶体座的连接部相对应连接；两个所述连接座的侧部均设置有所述调节件。

进一步地，还包括固定架；所述固定架设置于所述倍频晶体座的侧部，且所述固定架上开设有安装通孔，所述调节件的固定端能够穿过所述安装通孔并与所述固定架相连接。

进一步地，所述调节件为微分头。

进一步地，每个所述连接座两侧的所述调节件一个为长微分头，另一个为短微分头。

进一步地，两个所述连接座上均设置有避让部，每个所述避让部上方对应形成避让空间，其中一个所述连接座的所述调节件的伸缩端能够穿过另一个所述连接座的避让空间，以施力于对应的所述连接座。

进一步地，所述连接部朝向所述连接座的一端的端面上开设有连接孔，所述连接座朝向所述连接部的一端的端面上设置有连接件；所述连接件能够伸入到所述连接孔内，以固定所述连接部和所述连接座。

进一步地，所述连接座朝向所述连接部的一端端面上设置有限位块，用于防止所述连接座与所述连接部绕着所述连接件的轴向方向发生旋转。

本发明还提供了一种激光器，包括上述任一项所述的倍频组件调试装置。

与现有技术相比，本发明的有益效果为：