[发明专利]一种基于掺杂硅的光调制太赫兹宽带吸波器在审
申请号: | 201910484113.6 | 申请日: | 2019-06-05 |
公开(公告)号: | CN110048239A | 公开(公告)日: | 2019-07-23 |
发明(设计)人: | 郎婷婷;沈婷婷;胡杰 | 申请(专利权)人: | 中国计量大学 |
主分类号: | H01Q17/00 | 分类号: | H01Q17/00;H01Q15/00;G02B5/00 |
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地址: | 310018 浙江省杭州市江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 吸波 超材料层 硅衬底层 太赫兹波 掺杂硅 吸收率 单元结构阵列 光泵浦源 光调制 宽带 载流子 光调制功能 泵浦光束 电磁共振 宽带吸收 三层结构 耦合 正入射 掺硼 入射 吸收 隐身 成像 调制 带宽 激发 检测 通信 加工 应用 | ||
1.一种基于掺杂硅的光调制太赫兹宽带吸波器,其特征在于:包括三层结构,由下至上依次为硅衬底层(1)、超材料层(2)和光泵浦源(3);所述超材料层(2)由单元结构阵列组成,在xoy平面内周期性的排列在所述硅衬底层(1)上;当太赫兹波入射到吸波器时,被耦合进吸波器中并激发电磁共振,实现对太赫兹波的宽带吸收,光泵浦源(3)产生泵浦光束,正入射到硅衬底层(1)和超材料层(2)上,改变掺杂硅的载流子浓度,实现吸波器吸收频带、吸收率的光调制功能。
2.根据权利要求1所述的一种基于掺杂硅的光调制太赫兹宽带吸波器,其特征在于:所述硅衬底层(1)的材质为掺硼的p型硅,在一个周期内,硅衬底层(1)在x方向和y方向上的周期长度相等。
3.根据权利要求1所述的一种基于掺杂硅的光调制太赫兹宽带吸波器,其特征在于:所述超材料层(2)的材质为掺硼的p型硅,单元结构在x方向和y方向上的长度小于硅衬底层(1)的周期长度。
4.根据权利要求1所述的一种基于掺杂硅的光调制太赫兹宽带吸波器,其特征在于:所述光泵浦源(3)产生具有不同能量密度的泵浦光束。
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