[发明专利]一种槽型光电传感器的可靠性检测设备

说明书

本发明公开了一种槽型光电传感器的可靠性检测设备，包括主测试箱(主箱)与可拓展子测试箱(子箱)。在主箱中，连杆与电机输出轴固联，电机与固定于箱底凸台上的电机固定支架固联；主箱箱体外侧设有2个DB25连接器与连接子箱的锁扣；主箱箱体上盖板设有传感器接线端子、碰珠锁与限位柱；主箱上设有可用碰珠锁与上盖板连接的主箱箱盖；切光板上设有切光板调节片并与连杆松连接后放置于限位柱上；子箱不含驱动部分，其余与主箱结构相同。本发明采用密封设置，可在开放空间、环境测试箱内进行模拟高温、低温、高湿、粉尘等恶劣环境下的检测；在待测试传感器数量多于主箱可测数量时，可连接子箱进行拓展。本发明所述设备，整体结构合理，可靠实用。

技术领域

本发明涉及槽型光电传感器的检测领域，具体为一种槽型光电传感器的可靠性检测设备。

背景技术

槽型光电传感器的应用涉及的领域非常广泛，遍及航天、遥感、工业、农业、天文、通信等军用及民用领域。但是现有技术设备对槽型光电传感器的测试仅限于正常使用，无法在高温、低温、高湿、粉尘等恶劣环境下保证设备运行时的安全可靠，当待测试传感器数量过多时也无法进行拓展，故需要一种槽型光电传感器的可靠性检测设备，以满足对槽型光电传感器测试的需要，是检测槽型光电传感器最理想、实用的设备。

发明内容

为了克服现有技术方案的不足，本发明的目的在于提供一种槽型光电传感器的可靠性检测设备，在主测试箱中，通过电机驱动连杆，使得连杆带动主测试箱切光板进行往复移动，从而实现主测试箱切光板两侧挡片对槽型光电传感器光路的连续通断，同时通过主测试箱与子测试箱箱体外侧设置的2个DB25连接器将主测试箱电路与子测试箱电路之间进行连接并对电路进行供电，根据槽型光电传感器感受到的光信号变化转换为传感器接线端子的电信号变化，再以DB25连接器为通道保证主测试箱与子测试箱信号的正常输入输出，当待测试传感器数量多于主测试箱可测数量时，可连接子测试箱进行拓展，同时利用切光板调节片保证了切光板的可伸长性，利用锁扣保证主测试箱与子测试箱的固联。本发明采用密封设置，即可在开放空间内进行测试，也可以在环境测试箱内模拟高温、低温、高湿、粉尘等恶劣环境下的检测，可以保证设备安全可靠。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种槽型光电传感器的可靠性检测设备，包括主测试箱与可拓展子测试箱。在主测试箱中，连杆与电机输出轴固联，电机与电机固定支架固联，电机固定支架固定于箱底凸台上；主测试箱箱体外侧设置有2个DB25连接器与连接子测试箱的锁扣，DB25连接器将主测试箱电路与子测试箱电路之间进行连接并对电路进行供电，通过DB25连接器保证主测试箱与子测试箱信号的正常输入输出；主测试箱箱体上设置有主测试箱上盖板，主测试箱上盖板上设置有传感器安装凸台、若干传感器接线端子、碰珠锁与切光板限位柱；主测试箱上设置有主测试箱箱盖，主测试箱箱盖与主测试箱上盖板用碰珠锁连接；切光板与连杆松连接并放置于限位柱上，切光板上设置有切光板调节片；本发明采用密封设置，连杆上设置有密封橡胶圈；主测试箱上盖板与主测试箱箱体之间设置有四周环绕的密封条；切光板限位柱、测试箱箱体连接处的锁扣、碰珠锁、传感器接线端子、传感器安装凸台和与外部连通处的DB25连接器均采用橡胶密封件，确保测试箱内部的密封状态；子测试箱不包含驱动部分，没有连杆、电机与电机固定支架，其余结构与主测试箱结构相同。当待测试传感器数量多于主测试箱可测数量时，可连接子测试箱进行拓展，同时利用切光板调节片保证了切光板的可伸长性，利用锁扣保证主测试箱与子测试箱的固联。

作为本发明一种优选的技术方案，所述设备采用了模块化设计。

作为本发明一种优选的技术方案，所述设备采用了密封设置。

作为本发明一种优选的技术方案，所述设备主测试箱与子测试箱电路之间采用了DB25连接器连接。

作为本发明一种优选的技术方案，所述测试箱上盖板上设置有四周环绕的挡条，所述传感器安装凸台上的一侧设置有若干楔形沟槽。

作为本发明一种优选的技术方案，所述箱盖与测试箱上盖板用碰珠锁，箱盖上设置有若干观察孔。