[发明专利]用于对样本进行热分析的测量装置和方法有效

专利信息
申请号: 201910484970.6 申请日: 2019-06-05
公开(公告)号: CN110568009B 公开(公告)日: 2022-06-17
发明(设计)人: A·辛德勒 申请(专利权)人: 耐驰-仪器制造有限公司
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 北京市路盛律师事务所 11326 代理人: 张瑾;刘世杰
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 样本 进行 分析 测量 装置 方法
【权利要求书】:

1.用于对样本进行热分析的测量装置,其具有:

-坩埚(10),所述坩埚用于使样本(P)支承在坩埚(10)中,

-传感器(20),所述传感器用于测量布置在所述传感器(20)上的坩埚(10)中的样本(P)的样本温度,

其特征在于,具有用于所述坩埚(10)的防转动保护,以便在所述坩埚(10)布置在所述传感器(20)上时设定所述坩埚(10)相对于所述传感器(20)的预定转动位置,其中,所述坩埚(10)在其外侧的区域中具有使用者可见的第一标记,并且在传感器(20)的区域中或在测量装置的相对于所述传感器(20)固定布置的部件上设置可见的第二标记,从而使得当所述坩埚(10)布置在所述传感器(20)上时所述第一标记和第二标记的转动角重合,以便使用者能够根据所述第一标记和第二标记以所述坩埚(10)相对于所述传感器(20)的预定转动位置将所述坩埚(10)布置在所述传感器(20)上。

2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述第一标记或第二标记构造成标记的突出部或标记的凹陷部,其中,所述标记的突出部或标记的凹陷部具有在所述坩埚(10)的竖向上细长延伸的造型和/或在所述坩埚(10)的周向方向上看在0.1mm至1.0mm的范围中的宽度。

3.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,在所述坩埚(10)布置在所述传感器(20)上时所述坩埚(10)相对于传感器(20)的预定转动位置通过突出部在凹陷部中的形状配合接合确保,其中,所述突出部布置在所述传感器(20)或所述测量装置的相对于所述传感器(20)固定布置的另一部件上并且所述凹陷部布置在所述坩埚(10)的外侧的区域中,或反之布置。

4.根据权利要求2所述的测量装置,其特征在于,在所述坩埚(10)布置在所述传感器(20)上时所述坩埚(10)相对于传感器(20)的预定转动位置通过突出部在凹陷部中的形状配合接合确保,其中,所述突出部布置在所述传感器(20)或所述测量装置的相对于所述传感器(20)固定布置的另一部件上并且所述凹陷部布置在所述坩埚(10)的外侧的区域中,或反之布置。

5.根据权利要求3所述的测量装置,其特征在于,布置在所述坩埚(10)的外侧的区域中的凹陷部或在布置在所述坩埚(10)的外侧的区域中的突出部直接布置在所述坩埚(10)的侧面的外侧上。

6.根据权利要求4所述的测量装置,其特征在于,布置在所述坩埚(10)的外侧的区域中的凹陷部或在布置在所述坩埚(10)的外侧的区域中的突出部直接布置在所述坩埚(10)的侧面的外侧上。

7.根据权利要求3所述的测量装置,其特征在于,还具有至少在所述坩埚(10)的侧面的区域中包围所述坩埚(10)的部件,其中,布置在所述坩埚(10)的外侧的区域中的凹陷部或布置在所述坩埚(10)的外侧的区域中的突出部布置在包围所述坩埚(10)的部件上。

8.根据权利要求7所述的测量装置,其特征在于,至少在所述坩埚(10)的侧面的区域中包围所述坩埚(10)的部件是支承所述坩埚(10)的外坩埚(30-1)。

9.根据权利要求4所述的测量装置,其特征在于,还具有至少在所述坩埚(10)的侧面的区域中包围所述坩埚(10)的部件,其中,布置在所述坩埚(10)的外侧的区域中的凹陷部或布置在所述坩埚(10)的外侧的区域中的突出部布置在包围所述坩埚(10)的部件上。

10.根据权利要求9所述的测量装置,其特征在于,至少在所述坩埚(10)的侧面的区域中包围所述坩埚(10)的部件是支承所述坩埚(10)的外坩埚(30-1)。

11.根据权利要求3至10中任一项所述的测量装置,其特征在于,所述凹陷部和/或突出部在正交于接合方向的平面中看具有圆形的横截面。

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