[发明专利]一种快速测量地表粗糙度的装置和方法

权利要求书

1.一种快速测量地表粗糙度的装置，其特征在于，包括：

支撑杆(1)，其下方开设有开孔；

滚轮(2)和滚轮轴(3)，所述滚轮(2)通过滚轮轴(3)设置于所述开孔内，所述滚轮轴(3)的左右两端穿出所述支撑杆(1)并与角位移传感器(4)相连，所述角位移传感器(4)用于测量所述滚轮(2)的角位移量并将测得数据传输至处理装置(5)；

处理装置(5)，其设置于所述支撑杆(1)上，用于获取并处理所述角位移传感器(4)的反馈数据；以及

联轴器(6)和键(7)，二者用于联接所述滚轮轴(3)和所述角位移传感器(4)的出轴。

2.根据权利要求1所述的一种快速测量地表粗糙度的装置，其特征在于，所述处理装置(5)包括单片机控制系统、按钮以及显示屏，所述单片机控制系统用于储存程序、数据以及输出数据；所述按钮用于执行操作命令；所述显示屏用于显示所述单片机控制系统的输出数据。

3.根据权利要求1所述的一种快速测量地表粗糙度的装置，其特征在于，所述滚轮轴(3)和所述角位移传感器(4)的出轴上设置有键槽。

4.根据权利要求1所述的一种快速测量地表粗糙度的装置，其特征在于，所述滚轮(2)和所述滚轮轴(3)一体设置，用于测量被测地面指定路径的曲线长度。

5.一种利用权利要求1-4任一所述的一种快速测量地表粗糙度的装置进行测量的方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)选择被测地面的路径，手持测量装置使滚轮沿指定路径进行滚动，当滚动到终点后，记录显示屏上的测量数据，即为被测地面指定路径的曲线长度D₁；

(2)使用激光测距仪或其它测量工具测量出被测地面指定路径起止点的水平距离D₂；

(3)利用公式计算地表粗糙度。

6.根据权利要求5所述的利用快速测量地表粗糙度的装置进行测量的方法，其特征在于，所述地表粗糙度计算公式为Z＝D₁/D₂，其中，Z为地表粗糙度、D₁为曲线长度、D₂为水平距离。

7.根据权利要求5所述的利用快速测量地表粗糙度的装置进行测量的方法，其特征在于，所述曲线长度的计算公式如下：

D₁＝π·R·W/180

其中，R为滚轮的半径，W为根据所述角位移传感器测得所述滚轮的角位移量。