[发明专利]测试方法和测试系统

权利要求书

1.一种测试方法，其特征在于，应用于包括待测二极管、测试设备和加热设备的测试系统，所述测试设备与所述待测二极管连接，该测试方法包括：

将所述待测二极管放置于所述加热设备，并控制所述加热设备对所述待测二极管进行加热至预设温度；

通过所述测试设备向所述待测二极管施加第一方向电压，控制所述待测二极管正向导通；

停止向所述待测二极管施加所述第一方向电压，并通过所述测试设备向所述待测二极管施加第二方向电压，控制所述待测二极管反向截止；

停止向所述待测二极管施加所述第二方向电压，并测试所述待测二极管是否被击穿，以完成热逃逸性能的测试。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试设备包括开关模块和与该开关模块连接的正向导通模块；

所述通过所述测试设备向所述待测二极管施加第一方向电压，控制所述待测二极管正向导通的步骤，具体为：

通过所述开关模块控制所述正向导通模块向所述待测二极管施加第一方向电压，控制所述待测二极管正向导通。

3.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述测试设备还包括与所述开关模块连接的反向截止模块；

所述停止向所述待测二极管施加所述第一方向电压，并通过所述测试设备向所述待测二极管施加第二方向电压，控制所述待测二极管反向截止的步骤，具体为：

通过所述开关模块控制所述正向导通模块停止向所述待测二极管施加第一方向电压，并控制所述反向截止模块向所述待测二极管施加第二方向电压，控制所述待测二极管反向截止。

4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，向所述待测二极管施加第一方向电压的时长大于向所述待测二极管施加第二方向电压的时长。

5.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述正向导通模块包括第一驱动单元和与该第一驱动单元连接的第一开关单元；

所述通过所述开关模块控制所述正向导通模块向所述待测二极管施加第一方向电压，控制所述待测二极管正向导通的步骤，具体为：

通过所述开关模块控制所述第一驱动单元和第一开关单元向所述待测二极管施加第一方向电压，控制所述待测二极管正向导通。

6.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述反向截止模块包括：第二驱动单元和与该第二驱动单元连接的第二开关单元；

所述通过所述开关模块控制所述正向导通模块停止向所述待测二极管施加第一方向电压，并控制所述反向截止模块向所述待测二极管施加第二方向电压，控制所述待测二极管反向截止的步骤，具体为：

通过所述开关模块控制所述第一驱动单元和第一开关单元停止向所述待测二极管施加第一方向电压，并控制所述第二驱动单元和第二开关单元向所述待测二极管施加第二方向电压，控制所述待测二极管反向截止。

7.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述第一开关单元包括第一MOS管和第二MOS管，其中，所述第一MOS管的控制端与所述第一驱动单元连接、输入端与电源连接、输出端与所述待测二极管的阳极连接；所述第二MOS管的控制端与所述第一驱动单元连接、输入端与所述待测二极管的阴极连接、输出端接地；

所述通过所述开关模块控制所述第一驱动单元和第一开关单元向所述待测二极管施加第一方向电压，控制所述待测二极管正向导通的步骤，具体为：

通过所述开关模块控制所述第一驱动单元、第一MOS管和第二MOS管导通，向所述待测二极管施加第一方向电压，控制所述待测二极管正向导通。