[发明专利]一种基于参数二次选取的储层分类评价方法

说明书

本发明公开了一种基于参数二次选取的储层分类评价方法，包括储层评价参数的引入及分类、储层评价参数的相关性分析、储层评价参数的一次选取、储层评价参数的二次选取以及K‑均值聚类确定储层分类评价标准。本发明的有益效果是：经过二次优选确定储层评价参数，通过K‑均值聚类完成储层评价，使得参数的选取更加准确可靠，储层分类结果更为可信，储层参数的二次选取能够定量的优选出储层评价参数，且标准准确统一，本发明的储层评价方法结合了宏观以及微观参数，使最终得到的评价标准更加全面、准确。

技术领域

本发明涉及一种储层分类评价方法，具体为一种基于参数二次选取的储层分类评价方法，属于储层分类评价技术领域。

背景技术

储层分类评价是油气勘探开发中一项重要的基础工作，随着各项分析化验技术的进步，带来了众多表征储层的参数，如何有效、准确的选取参数作为最终评价参数并完成储层评价一直是学者们关注的问题。现阶段，根据所选参数进行分类评价的方法很多，但是在选取参数的时候，大多是根据经验，无法准确定量，标准不统一。

现阶段，储层评价方法主要存在以下几个方面的问题：

(1)在选取评价参数时缺乏统一的优选方法。传统的储层评价在优选参数时大多是根据专家经验，直接确定评价参数，这样就会使得评价参数选取的标准不统一。

(2)在确定各类储层评价参数的具体标准范围时，同样缺少定量的方法，因此会造成不同学者用相同的数据以及相同的参数得到不同的评价标准。

(3)由于以前分析测试手段相对较少，因此指定的储层评价标准通常只有宏观储层参数，评价参数不全面。现在随着分析测试手段的提高，能够得到多种类型的微观储层参数，但目前尚没有和宏观储层参数相结合，得到全面的储层评价标准，也没有建立相应的方法。

发明内容

本发明的目的就在于为了解决上述问题而提供研究了基于参数二次选取的储层分类评价方法，经过二次优选确定储层评价参数，通过K-均值聚类完成储层评价，使得参数的选取更加准确可靠，储层分类结果更为可信的一种基于参数二次选取的储层分类评价方法。

本发明通过以下技术方案来实现上述目的：一种基于参数二次选取的储层分类评价方法，包括以下步骤：

步骤1、储层评价参数的引入及分类

搜集压汞实验及与其对应的常规物性测试等反映储层物性的分析测试数据，将数据进行处理计算，得到一些需要通过计算得到的表征储层的关键参数，将以上参数按照其表征功能进行分类；

步骤2、储层评价参数的相关性分析

将所有评价参数通过主成分分析或是灰色关联分析等方法做其与主要物性参数渗透率或孔隙度做相关性分析；

步骤3、储层评价参数的一次选取

在储层参数分类及相关性分析的基础上，计算各类参数相关系数绝对值的平均值，以此作为权重系数，结合专家经验，确定每一类参数所选取作为最终评价参数的数量，完成储层评价参数的一次选取；

步骤4、储层评价参数的二次选取

根据相关性分析及储层评价参数的一次选取结果，在每一类储层评价参数中优选与渗透率或孔隙度相关性最好的对应数量的参数，作为储层分类评价的最终优选参数，完成储层评价参数的二次选取；

步骤5、K-均值聚类确定储层分类评价标准

将优选出的储层评价参数进行整理，计算出所有样品的平均值，作为K-均值聚类的初始聚类中心，根据需要给定聚类数量，将数据输入软件，应用K-均值聚类算法得到储层分类评价标准，并以此标准完成储层的分类评价。