[发明专利]一种基于选频法的多日变点联测的被动场源二维电场勘探方法

说明书

一种基于选频法的多日变点联测的被动场源二维电场勘探方法。本方法是为解决大范围测区开展选频法时所存在的场源空间变化所导致的勘探精度低的问题，采用在测线上布置多个日变点，通过特定公式求取整条测线内的由于场源空间变化所带来的日变趋势，从而对测线内所有记录点上的选频法电场数据进行日变校正。该方法能解决由于场源的空间变化所带来的电场数据畸变问题，从而提高不同记录点的电场数据的可比性，提高勘探精度，扩大应用范围。

技术领域

本发明涉及一种勘查地球物理领域的提高选频法的二维电场勘 探效果的新方法。

背景技术

在电法勘探中有一种采用测量被动场源电场进行地质勘探的选 频法。该方法采用两个接地的测量电极直接测量大地的电场不同频率 的电场信号强度，而无需测量大地的磁场，也无需布置人工电场，故 该方法的工作效率较高、勘探成本低、抗人文电磁干扰能力较强，在 地质勘探中具有比较明显的优势。在野外实际勘探工作中，一般是按 照某个记录点的两个测量电极之间的被动场源电场强度来判断该记 录点的地质情况，而很少对不同记录点的电场数据进行相关校正，特 别是日变校正；有部分文献提出了日变校正的方法，但往往只考虑一 个日变点的日变数据进行全体记录点的数据进行校正，而被动源电场的信号源除了天空中的雷电、太阳对地球的电离层等的改变、以及地 球的电离层本身的变化等天然电场源之外，也存在人文电场变化、地 球内部局部电磁场变化等电场源，而后者由于距离选频法勘探区较近， 其场源距测区距离不宜像前者场源由于距离较大而忽略，且随着选频 法测区范围的扩大，后者场源距离因素影响程度进一步增加，即后者 场源的空间信息会导致选频法测区内的日变影响呈现出与测区内记 录点位置有关的特征，故不宜仅采用一个日变点对测区内记录点的电 场数据进行统一校正，而需要考虑日变特征的空间变化，从而进一步 提高选频法的勘探效果。

发明内容：

基于目前选频法的电场勘探所存在的上述问题，为提高该方法的 勘探效果，故值得开展多日变点联测的新方法研究，以便减少由于场 源的空间位置所带来的问题，提高选频法的电场勘探精度。

本发明所提出的方法是在测线或测线延长线上布置多个日变点， 通过多日变点联测的方式，并采用相关算法，获取测线上不同记录点 更准确的地质因子校正系数、日变校正系数、日变趋势分段函数等， 从而获得精度更高的勘探效果。

一种基于选频法的多日变点联测的被动场源二维电场勘探方法， 其具体步骤如下：

a)确定勘探区，布置一条为直线的测线和测线上的一系列记录点， 并记录下每个记录点的坐标(X_i^c,Y_i^c)，其中本步骤的i为记录 点编号，i属于区间[1,P]中的自然数，P为记录点的总数量值； 优选记录点的间距相等；

b)在测线或测线延长线上选择地质情况简单且地质情况基本已 知、电磁干扰较少的位置挑选2个或2个以上的日变点，且其 中至少有2个日变点布置在测线的两个端点外的测线延长线 上；按照日变点在测线或测线延长线的位置按位置顺序、按自 然数顺序编号；并记录每个日变点的坐标(X_j^R,Y_j^R)，计算每个 日变点相对于日变点编号为1的距离其中本步骤中的距离公式 中的下标j为日变点编号，j属于区间[1,M]中的自然数，M为 日变点总数量值；其中编号为1的日变点在测线延长线上的某 个端点；

c)选择所有日变点中地质情况最简单、电磁干扰最少的日变点为 主日变点，并布置选频法的主日变仪器，其他日变点定义为次 日变点，并布置选频法的次日变仪器；为提高对日变点的地质 情况、电磁干扰等情况的了解程度，也可以先对日变点开展选 频法的测试，并基于测试所获得的数据进行具体分析判断；