[发明专利]具备偏振滤镜的测距装置

权利要求书

1.一种测距装置，其具备：

发光部，其发出以预先决定的频率进行了强度调制后的参照光；

受光部，其从测定对象空间接收入射光；以及

距离计算部，其根据上述参照光和上述入射光之间的相位差来计算到上述测定对象空间的物体的距离，

其特征在于，

上述测距装置还具备：

使第一偏振滤镜与第二偏振滤镜一体化的光学窗口，上述第一偏振滤镜用于使上述参照光偏振，上述第二偏振滤镜用于使上述入射光在相对于上述第一偏振滤镜的偏振方向偏离了90度的方向上偏振；

参照用反射材料，其反射由上述第一偏振滤镜偏振后的参照光；以及

劣化判定部，其根据将上述参照用反射材料反射并由上述第二偏振滤镜偏振后的入射光进行了接收的上述受光部中的来自上述参照用反射材料的反射强度，判定上述第一偏振滤镜以及上述第二偏振滤镜的劣化。

2.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，

上述测距装置还在上述第二偏振滤镜与上述受光部之间具备透镜。

3.根据权利要求1或2所述的测距装置，其特征在于，

上述光学窗口可装卸。

4.根据权利要求1或2所述的测距装置，其特征在于，

上述参照用反射材料具有不改变偏振方向的逆反射部。

5.根据权利要求4所述的测距装置，其特征在于，

上述参照用反射材料还具有扩散反射部。

6.根据权利要求5所述的测距装置，其特征在于，

上述劣化判定部根据来自上述逆反射部的反射强度以及来自上述扩散反射部的反射强度来判定上述劣化。

7.根据权利要求1或2所述的测距装置，其特征在于，

上述受光部具备二维排列的多个受光元件，

上述测距装置还具备参照用反射材料登记部，该参照用反射材料登记部预先登记在根据上述受光元件中积蓄的电荷量生成的图像中拍摄到的上述参照用反射材料在上述图像上的参照位置以及来自上述参照位置的反射强度。

8.根据权利要求6所述的测距装置，其特征在于，

上述受光部具备二维排列的多个受光元件，

上述劣化判定部从根据上述受光元件中积蓄的电荷量生成的图像中搜索上述参照用反射材料的形状，根据上述形状的位置以及姿势来确定上述逆反射部以及上述扩散反射部。

9.根据权利要求1或2所述的测距装置，其特征在于，

上述测距装置还具备参照用反射材料登记部，该参照用反射材料登记部预先登记上述参照用反射材料的形状。

10.根据权利要求8所述的测距装置，其特征在于，

上述参照用反射材料的形状是预先决定的形状。

11.根据权利要求7所述的测距装置，其特征在于，

上述参照位置包含产生了正反射的位置和没有产生正反射的位置。