[发明专利]壳体的测试方法

说明书

本申请提供了一种壳体的测试方法，所述壳体的测试方法包括步骤：提供待测试壳体、冲击件和承载平台，所述待测试壳体具有第一边缘和与所述第一边缘呈夹角设置的第二边缘，以及连接所述第一边缘和所述第二边缘的棱角边缘；将所述待测试壳体固定于所述承载平台上；利用所述冲击件在预设冲击速率下冲击所述待测试壳体的第一边缘、第二边缘和棱角边缘的至少一者；检测所述待测试壳体是否满足预设要求，若检测为是，则测试合格。上述测试方法无需使用复杂的测试设备，使用简单的冲击件如锤子就可进行，测试步骤简单快捷，可以在短时间内得出测试结果，便于快速调整制作工艺，改善壳体的抗冲击性能，缩短测试周期。

技术领域

本申请涉及电子设备技术领域，具体涉及一种壳体的测试方法。

背景技术

目前电子设备包括壳体，可以通过壳体对功能器件进行承载或收纳。通常需要对壳体进行落球测试、跌落测试和滚筒测试等，以测试壳体的抗冲击性能和硬度是否满足预设性能要求。但常规的落球测试、跌落测试和滚筒测试等测试的测试步骤复杂，测试周期长，容易影响生产进度。

发明内容

本申请实施例还提供一种壳体的测试方法，所述壳体的测试方法包括步骤：

提供待测试壳体、冲击件和承载平台，所述待测试壳体具有第一边缘和与所述第一边缘呈夹角设置的第二边缘，以及连接所述第一边缘和所述第二边缘的棱角边缘；

将所述待测试壳体固定于所述承载平台上；

利用所述冲击件在预设冲击速率下冲击所述待测试壳体的第一边缘、第二边缘和棱角边缘的至少一者；

检测所述待测试壳体是否满足预设要求，若检测为是，则测试合格。

本申请实施例提供的壳体的测试方法，通过将所述待测试壳体固定于所述承载平台上；再利用所述冲击件在预设冲击速率下冲击所述待测试壳体的第一边缘、第二边缘和棱角边缘的至少一者，然后检测所述待测试壳体是否满足预设要求，若检测为是，则测试合格，上述测试方法无需使用复杂的测试设备，使用简单的冲击件如锤子就可进行，测试步骤简单快捷，可以在短时间内得出测试结果，便于快速调整制作工艺，改善壳体的抗冲击性能，缩短测试周期。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的壳体的测试方法的流程示意图一；

图2是本申请实施例提供的壳体的测试方法的示意图一；

图3是图2中提供的待测试壳体的结构示意图一；

图4是图2中提供的待测试壳体的结构示意图二；

图5是本申请实施例提供的壳体的测试方法的示意图二；

图6是本申请实施例提供的壳体的测试方法的示意图三；

图7是本申请实施例提供的壳体的测试方法的流程示意图二；

图8是本申请实施例提供的壳体的测试方法的流程示意图三；

图9是本申请实施例提供的壳体的测试方法的流程示意图四；

图10是本申请实施例提供的壳体的测试方法的流程示意图五；

图11是本申请实施例提供的壳体的测试方法的流程示意图六；

图12是本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

请参阅图1和图2，本申请实施例提供一种壳体的测试方法，所述壳体的测试方法包括步骤101至步骤105：