[发明专利]一种多级全模式分解巴伦结构及线缆特性测试端接电路有效

专利信息
申请号: 201910490093.3 申请日: 2019-06-06
公开(公告)号: CN110174592B 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: 李冰;苏东林 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R31/08 分类号: G01R31/08;G01R29/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 多级 模式 分解 结构 线缆 特性 测试 端接 电路
【权利要求书】:

1.一种多级全模式分解巴伦结构,其特征在于:为由N个共差模分解单元CDU,通过级联形式构成的级联CDU结构,或者为由该级联CDU结构之间进一步并联所构成的并级联CDU结构;N≥2,N为正整数;

所述每个CDU具有4个引脚,其中两个为输入引脚,即引脚1和引脚2,另两个引脚分别为差模输出引脚,即引脚3和共模输出引脚,即引脚4;CDU内部包括差模分解部分和共模分解部分,差模分解部分和共模分解部分各基于一个射频变压器RFT构建,差模分解部分和共模分解部分分别独立实现输入端差模信号分解和共模信号分解功能;对于差模分解部分,CDU的两个输入引脚与RFT的一对同相引脚连接,RFT的另一对同相引脚分别接地和差模输出引脚;对于共模分解部分,CDU的两个输入引脚与RFT的一对反相引脚连接,RFT的另一对反相引脚互连后接共模输出引脚;

所述N等于2时构成2级级联CDU结构,所述2级级联CDU结构由3个CDU构成,将两个CDU的输入引脚依次排列构成2级级联CDU结构的4个输入引脚;将这两个CDU的差模输出引脚依次排列构成2级级联CDU结构的第1和第2个输出引脚;将这两个CDU的共模输出引脚分别接第3个CDU的两个输入引脚,然后将第3个CDU的差模输出引脚和共模输出引脚分别作为2级级联CDU结构的第3和第4输出引脚;通过CDU的2级级联,构成包含4输入引脚和4输出引脚的2级级联CDU结构;

所述N大于2时的多级级联CDU结构实现方式为:通过CDU的2级级联,构成包含4输入引脚和4输出引脚的2级级联CDU结构,记为CDU-2;2个CDU-2和1个CDU构成一个包含8输入引脚和8输出引脚的电路结构,记为CDU-3;同理,对于N大于2的情况,2个CDU-N和1个CDU构成一个包含2N+1个输入引脚和2N+1个输出引脚的电路结构,记为CDU-{N+1};由2个CDU-N和1个CDU构成CDU-{N+1}的连接方式为:将第1个CDU-N的所有输入引脚作为CDU-{N+1}的第1至第2N个输入引脚,顺序保持不变;将第2个CDU-N的所有输入引脚作为CDU-{N+1}的第2N+1至第2N+1个输入引脚,顺序保持不变;将第1个CDU-N的前2N-1个输出引脚作为CDU-{N+1}的第1至第2N-1个输出引脚,将第2个CDU-N的前2N-1个输出引脚作为CDU-{N+1}的第2N至第2N+1-2个输出引脚;将第1个CDU-N的第2N个,即最后一个输出引脚接入CDU的引脚1,第2个CDU-N的第2N个即最后一个输出引脚接入CDU的引脚2;将CDU的引脚3和引脚4分别作为CDU-{N+1}的第2N+1-1和2N+1个输出引脚。

2.根据权利要求1所述的多级全模式分解巴伦结构,其特征在于:所述并级联CDU结构中的并联方式为:将N个级联CDU结构进行编号1到N,依次将第1至第N个级联CDU结构的输入引脚进行排序,作为并级联CDU结构的输入引脚;依次将第1至第N个级联CDU结构的输出引脚进行排序,作为并级联CDU结构的输出引脚。

3.一种基于权利要求1或2所述的多级全模式分解巴伦结构的线缆特性测试端接电路,其特征在于:在所述多级全模式分解巴伦结构的基础上增加自动选通结构,构成完整的终端电路;多级全模式分解巴伦结构的输入端作为该终端电路的输入端,与待测线缆连接;多级全模式分解巴伦结构的输出端与自动选通结构的输入端相连接;自动选通结构的输出端作为该终端电路的输出端,与仪器端口连接。

4.根据权利要求3所述的线缆特性测试端接电路,其特征在于:所述自动选通结构基于射频单刀多掷开关及其组合实现,具体结构为:自动选通结构由单个射频单刀多掷开关及或多个射频单刀多掷开关的组合实现,具有1个共用引脚、多个多路待选引脚和多个控制引脚,可根据控制引脚的电平值确定共用引脚与哪一路待选引脚连接;多级全模式分解巴伦结构输入引脚直接与被测线缆连接,输出引脚与自动选通结构的多路待选端口相连;自动选通结构的通用引脚与仪器端口相连;待测线传输信号经多级全模式分解巴伦结构分解得到每种模式的信号,输入到自动选通结构待选;然后由自动选通结构根据控制电平决定将哪一路输入仪器进行测量。

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