[发明专利]一种相控阵天线的损伤检测方法、损伤检测装置及终端

权利要求书

1.一种相控阵天线的损伤检测方法，其特征在于，所述损伤检测方法包括：

获取目标相控阵天线的损伤阵面对应的损伤二维图像；

将所述损伤二维图像与预设的基准三维模型进行视角匹配，以确定与所述损伤二维图像对应的基准二维图像，其中，所述基准三维模型为基于所述目标相控阵天线对应的基准相控阵天线构建；

将所述损伤二维图像与所述基准二维图像进行特征比较，得到所述损伤阵面的损伤特征矩阵；

基于所述损伤特征矩阵对所述目标相控阵天线进行损伤评估，得到所述目标相控阵天线的损伤结果；

在将所述损伤二维图像与预设的基准三维模型进行视角匹配之前还包括：

获取基准相控阵天线的多个不同视角下的二维图像；

基于所述多个不同视角下的二维图像，构建所述基准相控阵天线的基准三维模型；

所述将所述损伤二维图像与预设的基准三维模型进行视角匹配，以确定与所述损伤二维图像对应的基准二维图像包括：

调整所述基准三维模型的视角至目标视角，以使所述基准三维模型在所述目标视角下对应的二维图像与所述损伤二维图像的相似度大于指定相似度阈值；

将所述基准三维模型在所述目标视角下对应的二维图像确定为与所述损伤二维图像对应的基准二维图像；

所述将所述损伤二维图像与所述基准二维图像进行特征比较，得到所述损伤阵面的损伤特征矩阵包括：

获取所述损伤二维图像的损伤二维特征点集；

获取所述基准二维图像的基准二维特征点集；

将所述损伤二维特征点集和所述基准二维特征点集进行匹配，得到所述损伤二维特征点集中的二维点与所述基准二维特征点集中的二维点的匹配关系；

获取所述基准二维特征点集在所述基准三维模型中的基准三维点云集；

基于所述匹配关系，将所述损伤二维特征点集与所述基准三维点云集进行对应，得到所述损伤二维特征点集对应的损伤三维点云集；

将所述基准三维点云集和所述损伤三维点云集进行比较，得到所述损伤阵面的损伤特征矩阵；

所述基于所述损伤特征矩阵对所述目标相控阵天线进行损伤评估，得到所述目标相控阵天线的损伤结果包括：

将所述损伤特征矩阵输入到预设的损伤评估模型，得到所述目标相控阵天线的损伤结果；

所述损伤评估模型在xyz空间坐标系中的数学表示为：

其中，表示目标相控阵天线的阵因子，S_nm表示N×M的目标相控阵天线的损伤特征矩阵，表示目标相控阵天线中各阵元的辐射场强，θ表示远场辐射方向与xyz空间坐标系中z轴方向的夹角，表示远场辐射方向的投影与xyz空间坐标系中x轴方向的夹角，其中，n,m均为大于0的正整数，1≤n≤N,1≤m≤M。

2.一种相控阵天线的损伤检测装置，其特征在于，适用于如权利要求1所述的相控阵天线的损伤检测方法，所述损伤检测装置，包括：

获取单元，用于获取目标相控阵天线的损伤阵面对应的损伤二维图像；

视角匹配单元，用于将所述损伤二维图像与预设的基准三维模型进行视角匹配，以确定与所述损伤二维图像对应的基准二维图像，其中，所述基准三维模型为基于所述目标相控阵天线对应的基准相控阵天线构建；

比较单元，用于将所述损伤二维图像与所述基准二维图像进行特征比较，得到所述损伤阵面的损伤特征矩阵；

评估单元，用于基于所述损伤特征矩阵对所述目标相控阵天线进行损伤评估，得到所述目标相控阵天线的损伤结果。

3.一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1所述相控阵天线的损伤检测方法的步骤。

4.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如上的权利要求1所述相控阵天线的损伤检测方法的步骤。