[发明专利]显示终端的跌落测试装置及其测试方法有效
申请号: | 201910493275.6 | 申请日: | 2019-06-06 |
公开(公告)号: | CN110231136B | 公开(公告)日: | 2020-09-18 |
发明(设计)人: | 孙华宇;刘锴;王云景;郑兴鹏 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G01M7/08 | 分类号: | G01M7/08 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 张雨竹 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 终端 跌落 测试 装置 及其 方法 | ||
本申请提供一种显示终端的跌落测试装置及其测试方法,涉及跌落测试技术领域,用于解决测试显示终端时,对跌落姿态中跌落角度和高度覆盖不全的问题。显示终端的跌落测试装置的测试方法包括:跌落测试装置响应于第一操作,生成第一控制指令;响应于第一控制指令,跌落测试装置驱动携载部运动,以带动待测显示终端翻转;待测显示终端的显示面与跌落测试装置的跌落面之间具有翻转夹角;跌落测试装置响应于第二操作,生成第二控制指令;响应于第二控制指令,跌落测试装置驱动携载部沿远离跌落面的方向移动,以带动待测显示终端升起;跌落测试装置响应于第三操作,生成第三控制指令;响应于第三控制指令,跌落测试装置驱动携载部与待测显示终端脱离。
技术领域
本申请涉及跌落测试技术领域,尤其涉及一种显示终端的跌落测试装置及其测试方法。
背景技术
随着电子产品的发展,用户对电子产品功能要求不断增多,但同时又偏爱于轻薄化的电子产品,这就导致电子产品中对各部件的集成度的要求不断提升。这样一来,电子产品内部结构设计及部件的排布变得尤为重要,为了满足多种需求,电子产品内部通常会出现非对称性的排布,导致各区域抗撞击能力不同,这就会导致电子产品设计存在薄弱区域。
以平板类产品为例,平板内部结构包含了多类模组、链接器、大小电路板和结构支撑件等,这些部件的分布是不均匀的。当平板受外力冲击时,不同型号的平板,产品内部的应力集中和结构薄弱区域各不相同。
为了保证产品的性能,每种型号的产品在出厂前都要做性能测试。例如需要做抗摔测试。由于实际使用过程中,存在各种摔落的可能性,为了保证检测结果的准确性,在测试时,如何能够尽量全面的覆盖各种跌落高度成为本领域技术人员急需解决的技术问题。
发明内容
本申请实施例提供一种显示终端的跌落测试装置及其测试方法,用于解决对待测显示终端进行测试时,跌落姿态中跌落角度和高度覆盖不全的问题。
为达到上述目的,本实施例采用如下技术方案:
第一方面,提供一种显示终端的跌落测试装置的测试方法,测试方法包括:S1:跌落测试装置响应于第一操作,生成第一控制指令;第一操作是指示跌落测试装置的携载部运动的操作;携载部用于固定待测显示终端;响应于第一控制指令,跌落测试装置驱动携载部运动,以带动待测显示终端翻转;待测显示终端的显示面与跌落测试装置的跌落面之间具有翻转夹角;其中,翻转夹角为0°的情况下,待测显示终端的与显示面平行的第一表面朝向跌落面; S2:跌落测试装置响应于第二操作,生成第二控制指令;第二操作是指示携载部升起的操作;响应于第二控制指令,跌落测试装置驱动携载部沿远离跌落面的方向移动,以带动待测显示终端升起;待测显示终端与跌落面之间具有跌落高度;S3:跌落测试装置响应于第三操作,生成第三控制指令;第三操作是指示待测显示终端跌落的操作;响应于第三控制指令,跌落测试装置驱动携载部与待测显示终端脱离,以使待测显示终端自由落体并撞击至跌落面。因此,本申请实施例提供的跌落测试装置的测试方法,对应的待测显示终端跌落姿态全面,跌落高度覆盖范围广,并且能够得到最薄弱位置是在哪种跌落姿态和哪个跌落高度下出现的。通过该测试方法对待测显示终端测试后,可获取较全面的信息,便于本领域技术人员对待测显示终端进行后续改良。
可选的,测试方法还包括:S4:跌落测试装置响应于第四操作,生成第四控制指令;第四操作是指示携载部水平转动的操作;响应于第四控制指令,跌落测试装置驱动携载部在与跌落面平行的表面内旋转,以带动待测显示终端水平转动;待测显示终端的与显示面相交的侧面与跌落测试装置的参考面之间具有水平夹角,参考面与跌落面垂直。可进一步丰富待测显示终端的跌落姿态。
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