[发明专利]摄像头模组的调试方法、摄像头模组及存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种摄像头模组的调试方法、摄像头模组及存储介质，摄像头模组的调试方法应用于摄像头模组，其中，摄像头模组包括测试烧录模块，摄像头模组的调试方法包括：在判定已安装至终端之后，通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测，获得霍尔元件对应的当前校准参数；通过测试烧录模块对当前校准参数进行烧录处理，以更新预存性能信息，获得更新后的性能信息；按照更新后的性能信息进行调试。

技术领域

本申请实施例涉及摄像头模组技术领域，尤其涉及一种摄像头模组的调试方法、摄像头模组及存储介质。

背景技术

随着摄像头的快速发展，用户对摄像头的成像效果的要求越来越高。为了提高摄像头的成像效果，在出厂前，一般会对摄像头模组进行检测和一次性存储数据(One timeprogram，OTP)烧录。具体地，摄像头模组可以通过对性能信息的烧录，快速提升自动对焦的速度和准确性。

然而，当安装至终端之后，由于受到周围其他模块的影响，摄像头模组出厂时OTP烧录的性能信息也可能受到影响而改变，从而影响摄像头模组的对焦精度和速度，降低摄像头模组的性能。

发明内容

本申请实施例提供了一种摄像头模组的调试方法、摄像头模组及存储介质，可以在摄像头模组安装至终端后，提高摄像头模组的对焦精度和速度，进而提升摄像头模组的性能。

本申请实施例的技术方案是这样实现的：

本申请实施例提供了一种摄像头模组的调试方法，所述方法应用于摄像头模组，其中，所述摄像头模组包括测试烧录模块，所述方法包括：

在判定已安装至终端之后，通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测，获得所述霍尔元件对应的当前校准参数；

通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理，以更新预存性能信息，获得更新后的性能信息；

按照所述更新后的性能信息进行调试。

在上述方案中，所述通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测，获得所述霍尔元件对应的当前校准参数之前，所述方法还包括：

获取实时连接参数；其中，所述实时连接参数用于表征所述摄像头模组与所述终端之间的连接状态；

根据所述实时连接参数，判断是否已安装至所述终端中。

在上述方案中，所述根据所述实时连接参数，判断是否安装至所述终端之后，且所述通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测之前，所述方法还包括：

在判定已安装至所述终端之后，向所述测试烧录模块传输开启指令；其中，所述开启指令用于使能所述测试烧录模块的测试功能和烧录功能。

在上述方案中，所述通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理，以更新预存性能信息，获得更新后的性能信息，包括：

提取所述预存性能信息中与所述霍尔元件对应的初始校准参数；

所述测试烧录模块将所述初始校准参数替换为所述当前校准参数，获得所述更新后的性能信息。

在上述方案中，所述通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理，以更新预存性能信息，获得更新后的性能信息，包括：

所述测试烧录模块将所述当前校准参数添加至所述预存性能信息中，获得所述更新后的性能信息。

在上述方案中，所述按照所述更新后的性能信息进行调试，包括：

所述霍尔元件按照所述更新后的性能信息进行磁场检测，获得实时磁场参数；

按照所述实时磁场参数进行调试。