[发明专利]一种基于散射场信息的超声兰姆波层析成像方法

权利要求书

1.一种基于散射场信息的超声兰姆波层析成像方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

步骤1：获取待测试件缺陷的散射场数据；

步骤2：基于散射场数据，利用缺陷重构算法重构待测试件缺陷的形状和大小。

2.根据权利要求1所述的基于散射场信息的超声兰姆波层析成像方法，其特征在于：获取待测试件缺陷的散射场数据的步骤为：

步骤1.1：确定待测试件缺陷的超声兰姆波入射角度，在360°范围内，沿着入射角度入射待测试件，进行衍射投影；

步骤1.2：利用圆环形结构数据接收模型接收各个方向的散射场数据。

3.根据权利要求2所述的基于散射场信息的超声兰姆波层析成像方法，其特征在于：衍射投影的个数为8。

4.根据权利要求1所述的基于散射场信息的超声兰姆波层析成像方法，其特征在于：利用缺陷重构算法重构待测试件缺陷的形状和大小的步骤为：

步骤2.1：对散射场数据进行一维傅立叶变换，得到不同入射角度下待测试件缺陷的二维傅立叶变换域在各圆弧上分布的傅立叶值；

步骤2.2：对于圆弧上分布的傅立叶值进行二维傅立叶反变换，利用衍射层析投影定理重构待测试件缺陷的形状和大小。

5.根据权利要求1所述的基于散射场信息的超声兰姆波层析成像方法，其特征在于：待测试件缺陷的形状包括圆形、正方形、十字形、椭圆形、矩形、以及跑道形。

6.根据权利要求2或5所述的基于散射场信息的超声兰姆波层析成像方法，其特征在于：待测试件圆形缺陷的超声兰姆波入射角度为0°，正方形缺陷、十字形缺陷的超声兰姆波入射角度为0～45°，椭圆形缺陷、矩形缺陷、跑道形缺陷的超声兰姆波入射角度为0～90°。

7.根据权利要求6所述的基于散射场信息的超声兰姆波层析成像方法，其特征在于：正方形缺陷、十字形缺陷的超声兰姆波入射角度选择为0°、11.25°、22.5°、33.75°以及45°，椭圆形缺陷、矩形缺陷、跑道形缺陷的超声兰姆波入射角度选择为0°、11.25°、22.5°、33.75°、45°、56.25°、67.5°、78.75°以及90°。

8.根据权利要求4所述的基于散射场信息的超声兰姆波层析成像方法，其特征在于：利用衍射层析投影定理重构待测试件缺陷时采用频域内插算法重构待测试件缺陷的形状和大小。