[发明专利]一种测试装置在审

专利信息
申请号: 201910508009.6 申请日: 2019-06-12
公开(公告)号: CN110261695A 公开(公告)日: 2019-09-20
发明(设计)人: 程振;钟衍徽;任楚建 申请(专利权)人: 深圳市江波龙电子股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04;G05D23/24;G05D23/19
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 李庆波
地址: 518057 广东省深圳市南山区科发路8*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 待测试元件 测试装置 测试 按压 外部热源设备 测试元件 承载容器 导热组件 高温环境 连接压块 温度环境 压块 申请
【权利要求书】:

1.一种测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:

承载容器,用于放置待测试元件;

压块,用于在所述待测试元件进行测试时,按压固定所述待测试元件;

导热组件,连接所述压块和外部热源设备,用于在所述待测试元件进行测试时,为所述待测试元件提供设定温度。

2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,

所述压块包括上金属压块和下金属压块;

所述导热组件设置于所述上金属块和所述下金属块之间,用于在所述下金属压块按压所述待测试元件进行测试时,通过所述下金属压块为所述待测试元件提供所述设定温度。

3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,

所述导热组件与所述上金属块和所述下金属块通过导热胶连接。

4.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,

所述导热组件包括金属压块;

所述导热组件设置于所述金属压块的底部,用于在所述下金属压块按压所述待测试元件进行测试时,通过所述金属压块的压力接触所述待测试元件,以为所述待测试元件提供所述设定温度。

5.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,

所述导热组件通过导热棒或者导热条连接所述外部热源设备。

6.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,

所述测试装置还包括第一接口;

所述导热组件包括沿导热方向的第一端和第二端,所述第一端连接所述压块,所述第二端连接所述第一接口,并可通过所述第一接口连接所述外部热源设备。

7.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,

所述测试装置还包括:

温度传感器,靠近所述导热组件设置,用于检测所述导热组件的温度。

8.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于,

所述温度传感器设置与所述压块和所述导热组件之间。

9.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于,

所述测试装置还包括第二接口;

所述温度传感器连接所述第二接口,并可通过所述第二接口连接外部检测设备。

10.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,

所述测试装置还包括:

顶针板,设置于所述承载容器下方,用于在所述待测试元件放置在所述承载容器中时,与所述待测试元件接触;

测试转接板,连接所述顶针板,用于通过所述顶针板连接所述待测试元件,以对所述待测试元件进行测试。

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