[发明专利]减小深度休眠模式下LPDRAM的静态功耗电路在审

专利信息
申请号: 201910508468.4 申请日: 2019-06-13
公开(公告)号: CN110164495A 公开(公告)日: 2019-08-23
发明(设计)人: 吴君;杜艳强;张学渊;朱光伟 申请(专利权)人: 苏州汇峰微电子有限公司
主分类号: G11C11/4074 分类号: G11C11/4074
代理公司: 苏州广恒知识产权代理事务所(普通合伙) 32334 代理人: 张利强
地址: 215000 江苏省苏州市工业园区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 深度休眠模式 核心电源 门控电路 静态功耗 减小 命令控制模块 电路 电源门控电路 静态漏电流 驱动电路 使能信号 数据I/O 休眠 电源
【权利要求书】:

1.一种减小深度休眠模式下LPDRAM的静态功耗电路,其特征在于,包括LPDRAM的第一门控电路、第二门控电路和命令控制模块,所述的第一门控电路产生内部第一核心电源VDD1I,所述的第二门控电路分别产生内部第二核心电源VDD2I和数据I/O驱动电路电源VDDQI,所述的命令控制模块产生深度休眠使能信号DPD;

所述的第一门控电路包括电平转换器、第一反相器、第二反相器、第一PMOS晶体管和第一NMOS晶体管,所述的电平转换器的输出接到第一反相器的输入,第一反相器的输出接到第二反相器的输入,第二反相器的输出接到第一PMOS晶体管的栅端和第一NMOS晶体管的栅端,第一PMOS晶体管的源端接到第一核心电源信号,第一PMOS晶体管和第一NMOS晶体管的漏端相互连接,作为内部第一核心电源VDD1I的驱动信号;

所述的第二门控电路包括第三反相器,第四反相器,第二PMOS晶体管和第二NMOS晶体管,所述的第三反相器的输出接到第四反相器的输入,第四反相器的输出接到第二PMOS晶体管的栅端和第二NMOS晶体管的栅端,第二NMOS晶体管的源端接地,第二NMOS晶体管的漏端与第二PMOS晶体管的漏端相互连接,并作为内部第二核心电源VDD2I的驱动信号。

2.根据权利要求1所述的减小深度休眠模式下LPDRAM的静态功耗电路,其特征在于,所述的第一门控电路输入的外部电压为外部第一核心电源VDD1、第二门控电路输入的外部电压为外部第二核心电源VDD1或外部数据I/O驱动电路电源VDDQ。

3.根据权利要求2所述的减小深度休眠模式下LPDRAM的静态功耗电路,其特征在于,所述的外部第一核心电源VDD1的电压值大于外部第二核心电源VDD2的电压值。

4.根据权利要求3所述的减小深度休眠模式下LPDRAM的静态功耗电路,其特征在于,所述的外部第一核心电源VDD1作为电平转换器的电源,外部第一核心电源VDD1接到电平转换器的电源端和第一PMOS的源端;所述的外部第二核心电源VDD2作为第三反相器和第四反相器的电源,外部第二核心电源VDD2接到第三反相器的电源端、第四反相器的电源端和第一PMOS晶体管的源端。

5.根据权利要求4所述的减小深度休眠模式下LPDRAM的静态功耗电路,其特征在于,所述的电平转换器的输入端输入深度休眠使能信号DPD,所述的深度休眠使能信号DPD由命令控制模块生成,命令控制模块的电源为外部输入的外部第二核心电源VDD2,当工作在正常状态时,深度休眠使能信号DPD为逻辑0,外部第一核心电源VDD1直接驱动到内部第一核心电源VDD1I;当工作在深度休眠状态时,深度休眠使能信号DPD为逻辑1,关闭外部第一核心电源VDD1的驱动电路,并把内部第一核心电源VDD1I的电压下拉到地电压。

6.根据权利要求5所述的减小深度休眠模式下LPDRAM的静态功耗电路,其特征在于,所述的第三反相器的输入端输入深度休眠使能信号DPD,所述的深度休眠使能信号DPD由命令控制模块生成,命令控制模块的电源为外部输入的外部第二核心电源VDD2,当工作在正常状态时,深度休眠使能信号DPD为逻辑0,外部第二核心电源VDD2直接驱动到内部第二核心电源VDD2I;当工作在深度休眠状态时,深度休眠使能信号DPD为逻辑1,关闭外部第二核心电源VDD2的驱动电路,并把内部第一核心电源VDD2I的电压下拉到地电压。

7.根据权利要求6所述的减小深度休眠模式下LPDRAM的静态功耗电路,其特征在于,所述的数据I/O驱动电路电源VDDQI控制第二门控电路,当工作在正常状态时,深度休眠使能信号DPD为逻辑0,外部输入的外部数据I/O驱动电路电源VDDQ直接驱动到数据I/O驱动电路电源VDDQI;当工作在深度休眠状态时,深度休眠使能信号DPD为逻辑1,关闭外部数据I/O驱动电路电源VDDQ的驱动电路,并把数据I/O驱动电路电源VDDQI的电压下拉到地电压。

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