[发明专利]电子设备的频率校准方法、装置、介质及电子设备

权利要求书

1.一种电子设备的频率校准方法，其特征在于，所述电子设备包括晶体振荡器；所述方法包括：

在所述电子设备的工厂生产线的工艺流程中，获取所述晶体振荡器在预设温度区间中的每一采样温度下的实际输出频率；

基于每一采样温度及其对应的实际输出频率和期望频率修正所述晶体振荡器的温度频率偏差特性函数的参数；

根据修正后的温度频率偏差特性函数校准所述晶体振荡器的输出频率。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子设备包括载板，所述晶体振荡器贴片于所述载板上，所述电子设备还包括电源管理芯片，所述电源管理芯片与所述晶体振荡器电连接，所述方法应用于所述电源管理芯片。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子设备的工厂生产线的工艺流程包括所述电子设备的老化测试流程。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设温度区间包括第一温度区间、第二温度区间和第三温度区间，其中所述第一温度区间的温度低于所述第二温度区间的温度，所述第二温度区间低于所述第三温度区间的温度。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述参数包括第一参数和第二参数；其中，基于每一采样温度及其对应的实际输出频率和期望频率修正所述晶体振荡器的温度频率偏差特性函数的参数，包括：

基于所述第二温度区间的每一采样温度及其对应的实际输出频率，确定所述第二温度区间的每一采样温度的第一频率偏差值；

根据所述第一频率偏差值和所述期望频率修正所述第一参数和所述第二参数。

6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述参数包括第三参数和第四参数；其中，基于每一采样温度及其对应的实际输出频率和期望频率修正所述晶体振荡器的温度频率偏差特性函数的参数，包括：

基于所述第一温度区间和所述第三温度区间的每一采样温度及其对应的实际输出频率，确定所述第一温度区间和所述第三温度区间的每一采样温度的第二频率偏差值；

根据所述第二频率偏差值和所述期望频率修正所述第三参数和所述第四参数。

7.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述预设温度区间为[-20℃,+55℃]。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一温度区间为[-20℃,-10℃]，所述第二温度区间为(-10℃，+45℃)，所述第三温度区间为[+45℃,+55℃]。

9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子设备还包括定位模组；其中，所述方法还包括：

利用所述晶体振荡器的输出频率，获取卫星的发射信号至所述定位模组的到达时间；

根据所述到达时间计算所述卫星与所述电子设备之间的距离。

10.一种电子设备的频率校准装置，其特征在于，所述电子设备包括晶体振荡器；所述装置包括：

频率采样模块，用于在所述电子设备的工厂生产线的工艺流程中，获取所述晶体振荡器在预设温度区间中的每一采样温度下的实际输出频率；

参数修正模块，用于基于每一采样温度及其对应的实际输出频率和期望频率修正所述晶体振荡器的温度频率偏差特性函数的参数；

频率校准模块，用于根据修正后的温度频率偏差特性函数校准所述晶体振荡器的输出频率。

11.一种电子设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-9中任一所述的方法。

12.一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1-9中任一所述的方法。