[发明专利]快速平面度/断差检测装置在审

专利信息
申请号: 201910510395.2 申请日: 2019-06-13
公开(公告)号: CN112082462A 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 刘明强;刘杨跃 申请(专利权)人: 昆山华复精密金属有限公司
主分类号: G01B5/28 分类号: G01B5/28;G01B21/30
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地址: 215300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 快速 平面 检测 装置
【说明书】:

发明涉及产品检测技术领域,具体公开了一种快速平面度/断差检测装置。该快速平面度/断差检测装置包括机架、检测组件、驱动装置及处理模块;其中,机架上设有用于放置待测产品的产品治具;检测组件包括设置于产品治具上方的承载架及连接于承载架上的多个位移传感器;驱动装置驱动承载架朝向产品治具移动,以使各位移传感器与待测产品接触,并测量出相应的位移值;处理模块与各位移传感器信号连接,并依据各位移传感器测量的位移值计算出待测产品的平面度/断差。该快速平面度/断差检测装置能够实现产品平面度/断差的快速检测,检测效率高,检测结果可靠。

【技术领域】

本发明涉及产品检测技术领域,尤其涉及一种快速平面度/断差检测装置。

【背景技术】

由于产品平面度及断差会直接影响到整机的装配及整机间隙,甚至会导致其他性能异常,因此,在产品出厂前,通常需要对产品平面度及断差进行检测。

现有的产品平面度及断差检测方法一般有两种,第一种是:人工进行产品平面度检测;进行产品平面度检测时,利用平面度检具加塞规,在待检测产品面的多个点进行检测;进行断差检测时,采用量块进行判定。第二种是利用三次元进行检测。但是,前者由于采用人工检测,检测过程较长,人为因素影响较大,容易漏失,数据无法记录;后者需要一个点一个点进行测量,检测过程较长,产品批量检测时,来不及检。

因此,有必要设计一种快速平面度/断差检测装置,以解决上述问题。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种快速平面度/断差检测装置,能够实现产品平面度/断差的快速检测,检测效率高,检测结果可靠。

为了实现上述目的,本发明采用如下的技术方案:

一种快速平面度/断差检测装置,包括:

机架,其上设有用于放置待测产品的产品治具;

检测组件,其包括设置于所述产品治具上方的承载架及连接于所述承载架上的多个位移传感器;

驱动装置,其驱动所述承载架朝向所述产品治具移动,以使各所述位移传感器与待测产品接触,并测量出相应的位移值;

处理模块,其与各所述位移传感器信号连接,并依据各所述位移传感器测量的位移值计算出待测产品的平面度/断差。

进一步地,还包括分析模块;所述分析模块接收所述处理模块计算出的待测产品的平面度/断差,并判断该平面度/断差是否超出预设值范围;若未超出,则该待测产品合格。

进一步地,还包括显示模块,其显示各所述位移传感器测量的位移值、所述处理模块计算出的待测产品的平面度/断差、及所述分析模块的分析结果。

进一步地,所述产品治具的顶面设置有多个限位柱,待测产品放置于各所述限位柱围成的限位区域内。

进一步地,所述限位柱的顶部具有引导产品进入所述限位区域内的倾斜引导面。

进一步地,各所述位移传感器相对于待测产品的待测面均匀分布。

进一步地,所述驱动装置包括丝杆、与所述丝杆配套的丝杆螺母及伺服电机;所述丝杆的两端与所述机架转动连接;所述丝杆螺母与所述承载架连接。

进一步地,还包括用于对各所述位移传感器进行校验的校验块;所述校验块与待测产品仿形。

本发明的有益效果是:利用多个位移传感器与待测产品接触,并测量出位移值;处理模块根据这些位移值计算出待测产品的平面度/断差,分析模块判断该计算结果是否超出预设值范围,若未超出,则该待测产品合格;从而完成了待测产品的平面度/断差检测,检测效率高,检测结果可靠。

【附图说明】

图1是本发明提供的快速平面度/断差检测装置的立体结构示意图;

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