[发明专利]一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法及系统

权利要求书

1.一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法，其特征在于，包括步骤：

断开LCD玻璃的脚位供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到初始图像；

对LCD玻璃的单一脚位进行供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到显示图像；

对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像；

对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像。

2.根据权利要求1所述的应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法，其特征在于：在对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像的具体步骤为；

对显示图像与模板图像进行差分运算；

根据运算结果生成第一差异图像。

3.根据权利要求1所述的应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法，其特征在于：在如果有干扰污点，则对干扰污点进行屏蔽的具体步骤为：

对第一差异图像与初始图像进行差分运算；

根据运算结果生成真实差异图像。

4.根据权利要求1所述的应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法，其特征在于：在对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像的步骤之后还包括有：

对真实差异图像进行判断是否满足合格图像的标准；

根据判断结果判断LCD玻璃的脚位是否合格。

5.一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点系统，其特征在于，包括有：

初始拍照模块，所述初始拍照模块用于断开LCD玻璃的脚位供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到初始图像；

显示拍照模块，所述显示拍照模块用于对LCD玻璃的单一脚位进行供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到显示图像；

第一分析对比模块，所述第一分析对比模块用于对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像；

差异分析对比模块，所述差异分析对比模块用于对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像。

6.根据权利要求5所述的应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点系统，其特征在于，所述第一分析对比模块具体包括有：

第一运算单元，所述第一运算单元用于对显示图像与模板图像进行差分运算；

第一差异图像生成单元，所述第一差异图像生成单元用于根据运算结果生成第一差异图像。

7.根据权利要求5所述的应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点系统，其特征在于，所述差异分析对比模块包括有：

第二运算单元，所述第二运算单元用于对第一差异图像与初始图像进行差分运算；

真实差异图像生成单元，所述真实差异图像生成单元用于根据运算结果生成真实差异图像。

8.根据权利要求5所述的应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点系统，其特征在于，还包括有：

合格判断模块，所述合格判断模块用于对真实差异图像进行判断是否满足合格图像的标准并根据判断结果判断LCD玻璃的脚位是否合格。