[发明专利]深度值确定方法及装置、电子设备和存储介质在审
申请号: | 201910517519.X | 申请日: | 2019-06-14 |
公开(公告)号: | CN112085842A | 公开(公告)日: | 2020-12-15 |
发明(设计)人: | 曹正江 | 申请(专利权)人: | 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
主分类号: | G06T17/05 | 分类号: | G06T17/05;G06T7/593;G06T7/73;G06T3/00;G06F16/29 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 王辉;阚梓瑄 |
地址: | 100086 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 深度 确定 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种深度值确定方法,其特征在于,包括:
获取第一关键帧,从所述第一关键帧中选取像素梯度值大于第一预设阈值的特征点作为目标特征点;
确定关键帧中特征点的深度值范围;
基于所述深度值范围确定所述目标特征点在第二关键帧中对应的目标投影点;
将所述目标投影点在所述深度值范围中对应的深度值作为所述目标特征点的目标深度值。
2.根据权利要求1所述的深度值确定方法,其特征在于,所述基于所述深度值范围确定所述目标特征点在第二关键帧中对应的目标投影点包括:
根据所述深度值范围确定所述目标特征点在所述第二关键帧中对应的候选投影点;
从所述候选投影点中筛选满足匹配条件的点作为中间投影点;
基于所述中间投影点的误差函数值确定一所述中间投影点作为目标投影点。
3.根据权利要求2所述的深度值确定方法,其特征在于,所述匹配条件包括:
所述中间投影点的像素梯度值大于所述第一预设阈值;
所述中间投影点的像素梯度方向与极线的方向不同;以及
所述中间投影点的像素梯度方向与所述特征点的梯度方向的差值小于第二预设阈值。
4.根据权利要求2所述的深度值确定方法,其特征在于,所述基于所述中间投影点的误差函数值确定一所述中间投影点作为目标投影点包括:
基于所述中间投影点的像素值的残差值、梯度模的残差值、像素值的分布标准差以及梯度模的分布标准差确定所述中间投影点的误差函数值;
从所述中间投影点中选取所述误差函数值最小的中间投影点作为所述目标投影点。
5.根据权利要求1所述的深度值确定方法,其特征在于,所述第二关键帧的数量为一个,所述将所述目标投影点在所述深度值范围中对应的深度值作为所述目标特征点的目标深度值包括:
根据对极几何原理,确定所述目标投影点在所述深度值范围中对应的深度值作为目标深度值。
6.根据权利要求1所述的深度值确定方法,其特征在于,所述第二关键帧的数量为多个,所述将所述目标投影点在所述深度值范围中对应的深度值作为所述目标特征点的目标深度值包括:
确定所述目标特征点与各所述第二关键帧对应的多个中间深度值;
将所述多个中间深度值进行加权平均处理以得到所述目标特征点的目标深度值。
7.根据权利要求1所述的深度值确定方法,其特征在于,所述目标特征点的数量为多个,在所述将所述目标投影点在所述深度值范围中对应的深度值作为所述目标特征点的目标深度值之后,所述方法还包括:
获取所述目标特征点的像素坐标以及与所述目标特征点对应的关键帧的相机位姿;
结合所述像素坐标、所述目标深度值以及所述相机位姿构建第一地图。
8.根据权利要求7所述的深度值确定方法,其特征在于,在所述结合所述像素坐标、所述目标深度值以及所述相机位姿构建第一地图之后,所述方法还包括:
将所述第一地图投影到二维平面上得到第二地图。
9.一种深度值确定装置,其特征在于,包括:
特征点确定模块,用于获取第一关键帧,从所述第一关键帧中选取像素梯度值大于第一预设阈值的特征点作为目标特征点;
深度值范围确定模块,用于确定关键帧中特征点的深度值范围;
投影点确定模块,用于基于所述深度值范围确定所述目标特征点在第二关键帧中对应的目标投影点;
深度值确定模块,用于将所述目标投影点在所述深度值范围中对应的深度值作为所述目标特征点的目标深度值。
10.一种电子设备,其特征在于,包括:
处理器;以及
存储器,所述存储器上存储有计算机可读指令,所述计算机可读指令被所述处理器执行时实现根据权利要求1至8中任一项所述的深度值确定方法。
11.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现根据权利要求1至8中任一项所述的深度值确定方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司,未经北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910517519.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:车位双重检测系统及方法
- 下一篇:半导体器件及其制备方法