[发明专利]阵列天线总辐射功率测量方法、装置以及计算机存储介质

说明书

本发明实施例提供一种阵列天线总辐射功率测量方法、装置以及计算机存储介质，通过将待测的阵列天线进行分区，使在阵列天线总辐射功率测量过程中，采样点的点数减少，在某些实施过程中可以大大地提升测试效率。

技术领域

本发明实施例涉及但不限于无线通信技术领域，具体而言，涉及但不限于一种阵列天线总辐射功率测量方法、装置以及计算机存储介质。

背景技术

随着人们对更高质量、更高清晰度和更快响应速度内容需求的提升，第5代(5^th-Generation，5G)移动通信技术应运而生，它包含了多项新技术，包括大规模阵列天线(Massive-MIMO)、波束成型技术(Beam Forming)、毫米波通信等。其中毫米波通信技术主要指的是利用波长在毫米量级的电磁波(频率为30GHz～300GHz)作为基站接入网络载体的通信技术。毫米波技术的介入，使得振子尺寸缩小到毫米级，大规模阵列天线技术得以广泛应用于5G通信产品中，阵列天线的振子单元数从128到256，甚至512，都已有成功应用案例。毫米波电路设计及大规模相控阵列天线的应用，要求天线与远端射频单元(Radio RemoteUnit，RRU)实现一体化，从而形成有源天线系统(Active Antenna System，AAS)。

传统的低频TRP测试规范(CTIA规范)因测量误差太大，已不适用于毫米波阵列天线。3GPP(3rd Generation Partnership Project)规定，有源天线系统(Active AntennaSystem，AAS)基站的设备有两种类型，分别为1-O类型和2-O类型，两者差别是工作频率不同，但整体架构几乎相同，请参见图1。如图1所示，该种设备的天线与射频口被固定连接在一起，目的是使基站更为紧凑，减小传输损耗，原则上来讲，天线不可从射频口上拆除。因此原先标准使用的传导测试由于射频接口的消失不在适用。3GPP规定针对1-O和2-O设备的射频测试必须使用辐射测试的方式，即OTA(Over the Air)测试。3GPP标准TS38.104规定，AAS基站属于2-O类型5G设备，其射频指标必须在暗室中通过空口(Over the Air，OTA)方式测量。其中基站辐射总功率(Total Radiated Power，TPR)是一项关键性的OTA测试条目，是衡量基站输出功率、杂散、邻道功率泄漏率(Adjacent Channel Leakage Ratio，ACLR)等多项射频指标的基础。

而3GPP最新版本的TS38.141-2标准中提出了基于瑞利分辨率的采样算法(I.2.2Reference angular step criteria)和基于归一化波矢空间的采样算法(I.6 Wavevector space grid)，可以减少测量采样点数，大幅度提升测量效率。但是当阵列单元数成倍增大，随着这波束宽度进一步变小，瑞利分辨率采样方案所需的点数也会成倍增加。因此对于超大阵列天线，为了提高测试效率，需要提出更高效的测试方案。

发明内容

本发明实施例提供的一种阵列天线总辐射功率测量方法、系统及装置，主要解决的技术问题是提高超大阵列天线总辐射功率的测试效率。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种阵列天线总辐射功率测量方法，包括：

将待测的阵列天线划分为N个天线子阵，所述N大于等于2；

根据所述N个天线子阵的尺寸确定采样间距；

根据所述采样间距确定采样点；

根据所述采样点的辐射功率确定整个阵列天线的总辐射功率。

本发明实施例还提供一种阵列天线总辐射功率测量装置，包括：

分区确定模块，用于确定待测阵列天线的天线子阵，确定天线子阵的尺寸；

采样间距确定模块，用于根据所述天线子阵的尺寸确定采样间距；