[发明专利]一种零值绝缘子串发热特性的模拟试验装置及其试验方法

权利要求书

1.一种零值绝缘子串发热特性的模拟试验装置，其特征在于：包括模拟塔身（1）、模拟横担（2）、绝缘子串（3）、模拟导线（4）和工频高压发生器（5），模拟横担（2）一端悬臂固定连接在模拟塔身（1）顶部，模拟横担（2）下方悬挂有绝缘子串（3），绝缘子串（3）下端悬挂模拟导线（4），模拟导线（4）通过导线电连接到工频高压发生器（5），还包括连接在绝缘子串（3）上端的泄露电流采集系统（6）和正对模拟导线（4）和绝缘子串（3）安装的红外成像仪（7）。

2.根据权利要求1所述的一种零值绝缘子串发热特性的模拟试验装置，其特征在于：绝缘子串（3）上端连接有伸缩杆（8），伸缩杆（8）上端悬挂在滑动导轨（9）上，滑动导轨（9）安装在模拟横担（2）并与其保持平行，模拟导线（4）为伸缩结构，模拟导线（4）与绝缘子串（3）间安装有电位分布调整环（10）。

3.根据权利要求1所述的一种零值绝缘子串发热特性的模拟试验装置，其特征在于：工频高压发生器（5）通过硬导线（11）连接到绝缘支柱（12）顶端，硬导线（11）通过伸缩电缆（13）连接到模拟导线（4）上。

4.根据权利要求1所述的一种零值绝缘子串发热特性的模拟试验装置，其特征在于：红外成像仪（7）固定在三脚架（14）顶端。

5.根据权利要求1所述的一种零值绝缘子串发热特性的模拟试验装置，其特征在于：绝缘子串（3）顶端安装有取样电阻（15），取样电阻（15）通过屏蔽电缆（16）连接到泄露电流采集系统（6）。

6.根据权利要求1所述的一种零值绝缘子串发热特性的模拟试验装置，其特征在于：模拟塔身（1）下端固定连接在铁板（17）上，铁板（17）接地。

7.根据权利要求1-6任一所述的一种零值绝缘子串发热特性的模拟试验装置的试验方法，其特征在于：该方法为：先通过电磁场仿真软件对拟模拟的塔型的A、B和C相的绝缘子串的电位分布进行计算，获取沿串的电位分布，然后调整模拟横担和模拟塔身的长度和宽度以及模拟导线的长度对电场的大体分布进行模拟，然后通过调整绝缘子串对横担和塔身的距离来对电位分布进行微调，导线端的电位分布还通过电位分布调整环进行控制和调整，装置对绝缘子串流入接地端的泄漏电流进行测量，在确保绝缘子串在干燥和洁净状态的电位分布后，通过调整环境因素以及绝缘子的表面状况以及低零值绝缘子在串中的位置，来获取不同工况下绝缘子串的发热特性以及红外成像特性。