[发明专利]一种基于范德瓦尔斯异质结的太赫兹辐射源有效
申请号: | 201910525464.7 | 申请日: | 2019-06-18 |
公开(公告)号: | CN110416862B | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 徐新龙;姚泽瀚;张隆辉;黄媛媛;朱礼鹏;杜婉怡 | 申请(专利权)人: | 西北大学 |
主分类号: | H01S1/02 | 分类号: | H01S1/02 |
代理公司: | 西安恒泰知识产权代理事务所 61216 | 代理人: | 李婷;赵中霞 |
地址: | 710069 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 瓦尔 斯异质结 赫兹 辐射源 | ||
1.一种基于范德瓦尔斯异质结的太赫兹辐射源,其特征在于,包括二维材料薄膜、三维半导体材料、泵浦光源和电极;
所述三维半导体材料层上设置二维材料薄膜构成范德瓦尔斯异质结;在电极形成的偏压作用下,泵浦光源激发所述范德瓦尔斯异质结界面辐射太赫兹波;
所述二维材料薄膜厚度0.34nm~2μm;所述三维半导体材料的厚度为500μm~2mm,任意晶面均可;
所述二维材料薄膜为石墨烯材料或过渡金属硫族化合物薄膜;
所述的石墨烯材料是本征石墨烯、掺杂石墨烯、还原氧化石墨烯、氧化石墨烯或直立生长石墨烯;
所述过渡金属硫族化合物薄膜的材料为二硫化钼、二硫化钨、二硫化铼、二硒化钨、二硒化钼、二硒化铼、二碲化钼或二碲化钨;
所述三维半导体材料为Ⅳ族半导体材料或Ⅲ-Ⅴ族半导体材料;
所述Ⅳ族三维半导体材料为硅或锗;
所述Ⅲ-Ⅴ族三维半导体材料为砷化镓、锑化镓、砷化铟、磷化铟或锑化铟;
所述三维半导体材料为本征半导体或者掺杂半导体;
所述的二维材料薄膜通过化学气相法、液相剥离法、外延生长法或氧化还原法制备得到;
所述电极是由在二维材料薄膜上的正电极,以及在三维半导体材料背面制备的负电极所构成;所述电极通过光刻法、真空蒸镀法、磁控溅射法或电化学沉积法制备。
2.如权利要求1所述的基于范德瓦尔斯异质结的太赫兹辐射源,其特征在于,所述泵浦光源采用中心波长为400~1550nm,脉冲宽度为10~200fs,重复频率为1kHz~82MHz的飞秒激光;所述泵浦光源单光子能量需大于三维半导体材料的带隙。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北大学,未经西北大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910525464.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种微波源及其控制方法
- 下一篇:一种高功率激光系统的合束器封装结构