[发明专利]一种基于范德瓦尔斯异质结的太赫兹辐射源有效

专利信息
申请号: 201910525464.7 申请日: 2019-06-18
公开(公告)号: CN110416862B 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 徐新龙;姚泽瀚;张隆辉;黄媛媛;朱礼鹏;杜婉怡 申请(专利权)人: 西北大学
主分类号: H01S1/02 分类号: H01S1/02
代理公司: 西安恒泰知识产权代理事务所 61216 代理人: 李婷;赵中霞
地址: 710069 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 瓦尔 斯异质结 赫兹 辐射源
【权利要求书】:

1.一种基于范德瓦尔斯异质结的太赫兹辐射源,其特征在于,包括二维材料薄膜、三维半导体材料、泵浦光源和电极;

所述三维半导体材料层上设置二维材料薄膜构成范德瓦尔斯异质结;在电极形成的偏压作用下,泵浦光源激发所述范德瓦尔斯异质结界面辐射太赫兹波;

所述二维材料薄膜厚度0.34nm~2μm;所述三维半导体材料的厚度为500μm~2mm,任意晶面均可;

所述二维材料薄膜为石墨烯材料或过渡金属硫族化合物薄膜;

所述的石墨烯材料是本征石墨烯、掺杂石墨烯、还原氧化石墨烯、氧化石墨烯或直立生长石墨烯;

所述过渡金属硫族化合物薄膜的材料为二硫化钼、二硫化钨、二硫化铼、二硒化钨、二硒化钼、二硒化铼、二碲化钼或二碲化钨;

所述三维半导体材料为Ⅳ族半导体材料或Ⅲ-Ⅴ族半导体材料;

所述Ⅳ族三维半导体材料为硅或锗;

所述Ⅲ-Ⅴ族三维半导体材料为砷化镓、锑化镓、砷化铟、磷化铟或锑化铟;

所述三维半导体材料为本征半导体或者掺杂半导体;

所述的二维材料薄膜通过化学气相法、液相剥离法、外延生长法或氧化还原法制备得到;

所述电极是由在二维材料薄膜上的正电极,以及在三维半导体材料背面制备的负电极所构成;所述电极通过光刻法、真空蒸镀法、磁控溅射法或电化学沉积法制备。

2.如权利要求1所述的基于范德瓦尔斯异质结的太赫兹辐射源,其特征在于,所述泵浦光源采用中心波长为400~1550nm,脉冲宽度为10~200fs,重复频率为1kHz~82MHz的飞秒激光;所述泵浦光源单光子能量需大于三维半导体材料的带隙。

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