[发明专利]基于强度相图的聚合物降解强度的计算方法和装置有效

专利信息
申请号: 201910525798.4 申请日: 2019-06-18
公开(公告)号: CN110334414B 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 张桃红;朱玲玲;赵悦;阿孜古丽;张德政 申请(专利权)人: 北京科技大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G16C60/00;G06F111/10
代理公司: 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 代理人: 张仲波
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 强度 相图 聚合物 降解 计算方法 装置
【权利要求书】:

1.一种基于强度相图的聚合物降解强度的计算方法,其特征在于,包括:

步骤1,读取待计算的聚合物的强度相图;

步骤2,从所述强度相图的坐标原点开始遍历,判断每个像素点上的元胞的强度状态;

步骤3,根据近邻-边界扩展算法,对所述相图中的相同强度状态的像素点所组成的区域进行孔洞、裂痕识别,获取不同强度状态的区域内孔洞、裂痕的区域面积和密集程度;

步骤4,根据所述不同强度状态的区域内孔洞、裂痕的区域面积和密集程度,以及预先建好的强度计算模型,计算不同强度状态的所述元胞的强度;

步骤5,根据所述不同强度状态的所述元胞的强度,计算所述聚合物的总强度。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤3包括:

S301,根据时间顺序,依次读取所述相图,进行孔洞、裂痕识别;

S302,从元胞的坐标原点开始遍历,当目标像素所组成的区域横向和纵向都大于等于N时,判断为孔洞;当目标像素所组成的区域只满足纵向长度大于/或等于N,或者只满足横向长度大于或等于N时,判断为裂痕;

S303,先对孔洞的个数以及面积进行统计;若目标像素点属于该孔洞,将其访问遍历标志设置为1;

S304,再对裂痕进行遍历,具体为:首先对裂痕进行纵向遍历,若该像素点访问遍历标识为0,且属于裂痕,将其访问标志设置成1,将裂痕加入存储裂痕的集合中;纵向遍历结束后,再对裂痕进行横向遍历,与纵向的方法相同,进而分别得到裂痕和孔洞的集合;

S305,根据相图图片或者状态已经求出来的裂痕、孔洞集合,循环遍历;再由当前裂痕或孔洞的坐标,求出最小和最大坐标值,确定当前区域的范围;

S306,判断当前裂痕里的坐标是否已经标记;如果已标记,则执行下一步骤;没有标记,则进行S304;

S307,对当前裂痕的范围进行向外矩形扩充,第一次增加N个像素点,第二次增加2*N依次类推,对当前扩充范围进行遍历,查看裂痕或孔洞集合中是否有存在于当前所遍历的范围内;如果存在,加入相邻裂痕或孔洞集合,并且当前相邻的裂痕个数加1;如果除了当前裂痕或孔洞没有其他区域相邻,或者构成区域的总面积占不到扩充面积的1/3时,则停止扩充,将上述的相邻裂痕存入集合,循环结束;

S308,依次遍历裂痕集合中的每一个裂痕或孔洞,直到结束,获取不同强度状态的区域内孔洞、裂痕的区域面积和密集程度。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤4包括:

当所述元胞的强度状态为结晶相时,计算所述元胞的强度具体为:

式中,σZ为结晶相强度值,αzh为区域内裂痕的个数,αzc为区域内孔洞的个数,Szh是区域内裂痕的面积总和,Szc是区域内孔洞的面积总和,φ、是与材料性质有关的预定参数,l×l为元胞个数;

当所述元胞的强度状态为无定形相时,计算所述元胞的强度具体为:

式中,σa为结晶相强度值,αah为区域内裂痕的个数,αac为区域内孔洞的个数,Sah是区域内裂痕的面积总和,Sac是该区域内孔洞的面积总和,γ、η是与材料性质有关的预定参数,l×l为元胞个数;

当所述元胞的强度状态为空相时,计算所述元胞的强度具体为:

式中,σe为空相强度值,αeh为区域内裂痕的个数,αec为区域内孔洞的个数,Seh是区域内裂痕的面积总和,Sec是区域内孔洞的面积总和,μ、ν是与材料性质有关的预定参数,l×l为元胞个数。

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