[发明专利]一种基于近似电路脆弱性分析的电路测试方法

权利要求书

1.一种基于近似电路脆弱性分析的电路测试方法，其特征在于，该测试方法包括以下步骤：

步骤1：针对近似电路推导某个节点信号翻转时的可靠度公式，进而得到此节点感染时近似电路失效率的计算方法；

步骤2：以近似电路中不同节点作为感染源计算失效率并利用关键门节点算法得到关键门节点；

步骤3：根据关键门节点和近似电路的所有输出组合的失效率进行近似电路设计和局部选择性加固并最终进行电路测试。

2.根据权利要求1所述的一种基于近似电路脆弱性分析的电路测试方法，其特征在于，所述的步骤2中的关键门节点搜索算法具体包括以下分步骤：

步骤21：解析近似电路网表，构建有向图并对其应用拓扑排序算法生成有序节点链表；

步骤22：在有序节点链表中设定某节点信号翻转，利用EPP算法求解近似电路中得不到近似无故障输出的失效率；

步骤23：与步骤22相同设定下，求解计算近似电路的可接受输出中与近似无故障输出不同部分的概率，在步骤22的基础上进一步操作并最终得到近似电路的失效率；

步骤24：遍历所有节点作为信号翻转源，得到近似电路失效率最大值的节点，并作为关键门节点。

3.根据权利要求2所述的一种基于近似电路脆弱性分析的电路测试方法，其特征在于，所述的步骤23中的可接受输出具体包括近似电路面向的应用可以接受的输出。

4.根据权利要求2所述的一种基于近似电路脆弱性分析的电路测试方法，其特征在于，所述的步骤22中的近似无故障输出具体包括无故障的近似电路得到的输出。

5.根据权利要求2所述的一种基于近似电路脆弱性分析的电路测试方法，其特征在于，所述步骤23中的在步骤22的基础上进一步操作具体包括运用步骤22得到的失效率减去步骤23算得的概率。

6.根据权利要求1所述的一种基于近似电路脆弱性分析的电路测试方法，其特征在于，所述的步骤1中可靠度公式为：

Rel＝Rel1+Rel2

式中，Rel1表示近似无故障输出部分对应的可靠度，Rel2表示近似电路可接受输出中去除近似无故障输出的剩余输出部分对应的可靠度，Rel表示近似电路可靠度。

7.根据权利要求1所述的一种基于近似电路脆弱性分析的电路测试方法，其特征在于，所述的步骤1中近似电路失效率的计算公式为：

FP＝1-Rel＝1-Rel1-Rel2＝SF-Rel2

式中，FP表示近似电路失效率，SF＝1-Rel。

8.根据权利要求6所述的一种基于近似电路脆弱性分析的电路测试方法，其特征在于，所述的近似无故障输出部分对应的可靠度的计算公式为：

式中，P(i)表示十进制值为i的输入组合的概率，P(AO_i)表示该十进制值为i的输入组合下得到的近似无故障输出组合的概率，n为近似电路原始输入端个数。

9.根据权利要求6所述的一种基于近似电路脆弱性分析的电路测试方法，其特征在于，所述的近似电路可接受输出中去除近似无故障输出的剩余输出部分对应的可靠度的计算公式为：

式中，P(AEA_i)表示近似电路在十进制值为i的输入组合下得到可接受输出中去除近似无故障输出的剩余输出组合的概率。