[发明专利]大规模阵列天线测量系统、方法、装置和存储介质

说明书

本申请涉及一种大规模阵列天线测量系统、方法、装置和存储介质。大规模阵列天线测量系统包括射频开关模块、矢量网络分析仪和处理设备。矢量网络分析仪的一个测试端口通过射频开关模块连接待测试大规模阵列天线的各射频端口，同时，另一个测试端口连接待测试大规模阵列天线的校准端口。射频开关模块可控制其中一个射频端口与矢量网络分析仪之间形成通路以进行测量；矢量网络分析仪分别测量各个射频端口，得到组合模块的S参数。处理设备处理组合模块的S参数和射频开关模块的S参数，得到待测试大规模阵列天线的S参数。基于此，该测量系统仅采用两端口矢量网络分析仪即可进行测试，能够有效降低大规模阵列天线的测试成本。

技术领域

本申请涉及通信技术领域，特别是涉及一种大规模阵列天线测量系统、方法、装置和存储介质。

背景技术

大规模阵列天线是5G(5th-Generation，第五代移动通信技术)通信系统的主流天线类型之一，天线的端口数目多达64个，个别试验机型的天线端口已达128个。因此，天线测试面临全新挑战，主要体现在需测试端口多，设备校准及测试过程复杂、低效。

在实现过程中，发明人发现传统技术中至少存在如下问题：传统的大规模天线测试技术需采用多端口矢量网络分析仪进行测试，测试成本高。

发明内容

基于此，有必要针对传统的大规模天线测试技术存在测试成本高的问题，提供一种大规模阵列天线测量系统、方法、装置和存储介质。

为了实现上述目的，一方面，本申请实施例提供了一种大规模阵列天线测量系统，包括：

射频开关模块，用于与待测试大规模阵列天线配合形成组合模块；其中，射频开关模块包括接入端口和多个切换端口，各切换端口用于与待测试大规模阵列天线的各射频端口一一对应连接；射频开关模块用于控制接入端口与其中一个切换端口之间形成通路。

矢量网络分析仪，用于测量组合模块的S参数；矢量网络分析仪包含两个测试端口，其中一个测试端口连接接入端口，另一个测试端口用于连接待测试大规模阵列天线的校准端口。

处理设备，连接矢量网络分析仪，用于获取射频开关模块的S参数和组合模块的S参数，并处理组合模块的S参数和射频开关模块的S参数，得到待测试大规模阵列天线的S参数。

另一方面，本申请实施例还提供了一种大规模阵列天线测量方法，应用于大规模阵列天线测量系统，大规模阵列天线测量系统包括射频开关模块和矢量网络分析仪。射频开关模块用于与待测试大规模阵列天线配合形成组合模块，其中，射频开关模块包括接入端口和多个切换端口，各切换端口用于与待测试大规模阵列天线的各射频端口一一对应连接。矢量网络分析仪包含两个测试端口，其中一个测试端口连接接入端口，另一个测试端口用于连接待测试大规模阵列天线的校准端口。

该大规模阵列天线测量方法包括：

通过射频开关模块控制接入端口与其中一个切换端口之间形成通路，并获取矢量网络分析仪测量得到的组合模块的S参数。

处理组合模块的S参数，和获取到的射频开关模块的S参数，得到待测试大规模阵列天线的S参数。

在其中一个实施例中，提供了一种基于上述大规模阵列天线测量方法的装置，包括：

S参数测量模块，用于通过射频开关模块控制接入端口与其中一个切换端口之间形成通路，并获取矢量网络分析仪测量得到的组合模块的S参数。

S参数处理模块，用于处理组合模块的S参数，和获取到的射频开关模块的S参数，得到待测试大规模阵列天线的S参数。

在其中一个实施例中，提供了一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述的大规模阵列天线测量方法。

上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点和有益效果：