[发明专利]主动降噪耳机测试方法、装置、终端设备及存储介质

说明书

本申请实施例适用于耳机技术领域，公开了一种主动降噪耳机测试方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质，其中，方法包括：分别测试待测试耳机的第一被动降噪曲线和降噪麦克风的频响曲线；根据第一被动降噪曲线、降噪麦克风的频响曲线和预先测试的参考曲线，计算降噪麦克风的增益，并将增益写入待测试耳机；分别测试待测试耳机主动降噪功能打开时的第一频响曲线和主动降噪功能关闭时的第二频响曲线；根据第一频响曲线和第二频响曲线，得出待测试耳机的主动降噪测试结果。本申请实施例可以简化主动降噪耳机测试的步骤，减少测试时间，提高测试效率。

技术领域

本申请属于耳机技术领域，尤其涉及一种主动降噪耳机测试方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质。

背景技术

主动降噪耳机的降噪技术一般包括前馈式降噪和反馈式降噪。前馈式降噪是指在耳机上有一个朝向外面的麦克风，用于接收环境噪音，然后再将环境噪声倒向180度叠加到喇叭上，以将环境噪声消除，达到降噪的效果；反馈式降噪也可称为后馈式降噪，其一般将后馈麦克风设置在耳机内部，采集环境噪声并通过反馈方式进行叠加消除该噪声。

目前，主动降噪耳机的测试一般需要基于音频分析软件、消音箱、人工耳、音箱以及信号放大器等组成的系统，测试流程一般为：将待测试产品的喇叭端放到人工耳，控制音箱播放噪声，同时，人工耳采集信号实时分析频率响应曲线和主动降噪效果曲线，并且实时调整降噪麦克风的增益，经过多次调整循环，即实时采集数据、实时分析曲线，实时调整降噪麦克风的增益，也即一边测试主动降噪曲线，一边调整降噪麦克风的增益值，测试得出的主动降噪效果曲线。现有测试方式需要反复调整和测试，需要耗费大量的测试时间，降低测试效率，尤其是当产品不是同一批次，增益值不够集中的情况下，测试效率更低。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供一种主动降噪耳机测试方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质，以解决现有测试方式的测试效率较低的问题。

本申请实施例的第一方面提供一种主动降噪耳机测试方法，包括：

分别测试待测试耳机的第一被动降噪曲线和降噪麦克风的频响曲线；

根据所述第一被动降噪曲线、所述降噪麦克风的频响曲线和预先测试的参考曲线，计算所述降噪麦克风的增益，并将所述增益写入所述待测试耳机；

分别测试所述待测试耳机主动降噪功能打开时的第一频响曲线和主动降噪功能关闭时的第二频响曲线；

根据所述第一频响曲线和所述第二频响曲线，得出所述待测试耳机的主动降噪测试结果。

结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述降噪麦克风的频响曲线包括前馈麦克风的第三频响曲线和/或后馈麦克风的第四频响曲线；所述参考曲线包括所述待测试耳机的第二被动降噪曲线和降噪麦克风的参考频响曲线，所述参考频响曲线包括前馈麦克风的第五频响曲线和/或后馈麦克风的第六频响曲线；

所述根据所述第一被动降噪曲线、所述降噪麦克风的频响曲线和预先测试的参考曲线，计算所述降噪麦克风的增益，包括：

根据所述第一被动降噪曲线、所述第二被动降噪曲线、所述第五频响曲线和所述第三频响曲线，通过计算所述前馈麦克风的增益；和/或

根据所述第一被动降噪曲线、第二被动降噪曲线、第六频响曲线和所述第四频响曲线，通过计算所述后馈麦克风的增益；

其中，P₁为所述第一被动降噪曲线，G₁为所述第二被动降噪曲线，F₁为所述第三频响曲线，B₁为所述第四频响曲线，GF₁为所述第五频响曲线，GB₁为所述第六频响曲线。

结合第一方面，在一种可能的实现方式中，在所述分别测试待测试耳机的第一被动降噪曲线和降噪麦克风的频响曲线之前，还包括：