[发明专利]一种应用于LED灯测试夹具的测试系统

权利要求书

1.一种应用于LED灯测试夹具的测试系统，其特征在于，包括：MCU控制驱动电路、MOS管驱动电路、极性判断电路、测试夹具；

其中MOS管驱动电路为包括四个MOS管的H桥电路，其中H桥的电源正极端与电源正极电连接，H桥的电源负极端与电源负极电连接；所述MCU控制驱动电路分别与MOS管驱动电路以及测试夹具电连接，所述MOS管驱动电路通过极性判断电路与所述测试夹具电连接。

2.根据权利要求1所述的应用于LED灯测试夹具的测试系统，其特征在于，所述MOS管驱动电路为包括四个MOS管的H桥电路，该电路具体包括：第一NMOS管、第二NMOS管、第三NMOS管和第四NMOS管，所述第一NMOS管的漏极、第三NMOS管的漏极作为H桥的电源正极端，所述第一NMOS管的源极与第二NMOS管的漏极电连接，所述第三NMOS管的源极与第四NMOS管的漏极电连接，所述第二NMOS管的源极、第四NMOS管的源极作为H桥的电源负极端。

3.根据权利要求2所述的应用于LED灯测试夹具的测试系统，其特征在于，所述MOS管驱动电路为包括四个MOS管的H桥电路，该电路还包括：第一电阻R1、第一稳压二极管D1、第一电容C1、第五电容C5以及第五电阻R5；第二电阻R2、第二稳压二极管D2、第二电容C2、第六电容C6以及第六电阻R6；第三电阻R3、第三稳压二极管D3、第三电容C3、第七电容C7以及第七电阻R7；第四电阻R4、第四稳压二极管D4、第四电容C4、第八电容C8以及第八电阻R8；

第一稳压二极管D1的阳极、第一电容C1的负极、第五电容C5的另一端均与电源地电平电连接，第一稳压二极管D1的阴极、第一电容C1的正极、第五电容C5的一端、第五电阻R5的一端均与第一电阻R1的一端电连接后与第一NMOS管的源极电连接，所述第一电阻R1的另一端与电源电连接，所述第五电阻R5的另一端与第一NMOS管的栅极电连接；

第二稳压二极管D2的阳极、第二电容C2的负极、第六电容C6的另一端均与电源地电平电连接，第二稳压二极管D2的阴极、第二电容C2的正极、第六电容C6的一端、第六电阻R6的一端均与第二电阻R2的一端电连接后与第一NMOS管的源极电连接，所述第二电阻R2的另一端与电源电连接，所述第六电阻R6的另一端与第二NMOS管的栅极电连接；

第三稳压二极管D3的阳极、第三电容C3的负极、第七电容C7的另一端均与电源地电平电连接，第三稳压二极管D3的阴极、第三电容C3的正极、第七电容C7的一端、第七电阻R7的一端均与第三电阻R3的一端电连接后与第一NMOS管的源极电连接，所述第三电阻R3的另一端与电源电连接，所述第七电阻R7的另一端与第三NMOS管的栅极电连接；

第四稳压二极管D4的阳极、第四电容C4的负极、第八电容C8的另一端均与电源地电平电连接，第四稳压二极管D4的阴极、第四电容C4的正极、第八电容C8的一端、第八电阻R8的一端均与第四电阻R4的一端电连接后与第一NMOS管的源极电连接，所述第四电阻R4的另一端与电源电连接，所述第八电阻R8的另一端与第四NMOS管的栅极电连接。

4.根据权利要求2或3所述的应用于LED灯测试夹具的测试系统，其特征在于，所述极性判断电路包括电流传感器，所述电流传感器电连接在所述第一NMOS管的源极与第二NMOS管的漏极电连接处以及所述第三NMOS管的源极与第四NMOS管的漏极电连接处之间；所述测试夹具的正电极端与所述第一NMOS管的源极与第二NMOS管的漏极电连接处电连接，所述测试夹具的负电极端与所述第三NMOS管的源极与第四NMOS管的漏极电连接处电连接。

5.根据权利要求4所述的应用于LED灯测试夹具的测试系统，其特征在于，所述MCU控制驱动电路具体包括：单片机，电源与地之间电连接有由第十三电阻R13和第九电容C9串联组成的充放电回路，用于为单片机提供复位信号；由晶体谐振器X1、第十电容C10、第十一电容C11组成的振荡电路，用于为单片机提供稳定时钟；所述电流传感器的反馈信号输出端通过第十四电阻R14与所述单片机的反馈信号输入端电连接，所述单片机的四个驱动信号输出端分别与第一NMOS管的栅极、第二NMOS管的栅极、第三NMOS管的栅极、第四NMOS管的栅极对应电连接。