[发明专利]基于微区原位元素配分的成岩流体来源判识方法及系统在审
申请号: | 201910538155.3 | 申请日: | 2019-06-20 |
公开(公告)号: | CN112113990A | 公开(公告)日: | 2020-12-22 |
发明(设计)人: | 王昱翔;顾忆;黄继文;王斌;李淼 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
主分类号: | G01N23/2254 | 分类号: | G01N23/2254 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 孙向民;廉莉莉 |
地址: | 100027 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 原位 元素 流体 来源 方法 系统 | ||
1.一种基于微区原位元素配分的成岩流体来源判识方法,其特征在于,包括:
获取不同类型储集空间不同充填物类型的岩石样品,制成薄片样品;
针对所述薄片样品进行大薄片2D扫描,获取2D扫描图片;
对不同类型储集空间的岩石样品的充填物脉体进行全阴极发光扫描,在所述2D扫描图片上标定不同阴极发光特征的颗粒点位;
根据所述颗粒点位,建立阴极发光-元素配分图版;
通过阴极发光特征分析充填物成因类型,根据阴极发光-元素配分图版,建立流体元素配分组成图版。
2.根据权利要求1所述的基于微区原位元素配分的成岩流体来源判识方法,其中,所述薄片样品适用于阴极发光与原位颗粒元素测试。
3.根据权利要求1所述的基于微区原位元素配分的成岩流体来源判识方法,其中,对不同类型储集空间的岩石样品的充填物脉体进行全阴极发光扫描,在所述2D扫描图片上标定不同阴极发光特征的颗粒点位包括:
选取所述岩石样品的充填物脉体的一处端点颗粒位置,通过所述2D扫描图片与阴极发光透射光视域颗粒形态、大小及相对位置的判断对比,点对点确定位置后进行阴极发光测试;
顺着所述岩石样品的充填物脉体排列方向顺序移动转换视域,直至将整个充填物脉体阴极发光特征测试完毕;
将所述2D扫描图片与视域对应,通过标记工具在所述2D扫描图片中标定所述颗粒点位。
4.根据权利要求1所述的基于微区原位元素配分的成岩流体来源判识方法,其中,根据所述全阴极发光扫描的颗粒点位,建立阴极发光-元素配分图版包括:
根据所述全阴极发光扫描的颗粒点位标记进行原位充填物和围岩颗粒元素测试,按照井区与阴极发光特征分别建立元素组成图版,进而建立阴极发光-元素配分图版。
5.根据权利要求4所述的基于微区原位元素配分的成岩流体来源判识方法,其中,建立阴极发光-元素配分图版包括:
基于所述元素组成图版,获得元素数据寻找差异大、灵敏度高的元素因子及其组合,建立所述阴极发光-元素配分图版。
6.一种基于微区原位元素配分的成岩流体来源判识系统,其特征在于,该系统包括:
存储器,存储有计算机可执行指令;
处理器,所述处理器运行所述存储器中的计算机可执行指令,执行以下步骤:
获取不同类型储集空间不同充填物类型的岩石样品,制成薄片样品;
针对所述薄片样品进行大薄片2D扫描,获取2D扫描图片;
对不同类型储集空间的岩石样品的充填物脉体进行全阴极发光扫描,在所述2D扫描图片上标定不同阴极发光特征的颗粒点位;
根据所述颗粒点位,建立阴极发光-元素配分图版;
通过阴极发光特征分析充填物成因类型,根据阴极发光-元素配分图版,建立流体元素配分组成图版。
7.根据权利要求6所述的基于微区原位元素配分的成岩流体来源判识系统,其中,所述薄片样品适用于阴极发光与原位颗粒元素测试。
8.根据权利要求6所述的基于微区原位元素配分的成岩流体来源判识系统,其中,对不同类型储集空间的岩石样品的充填物脉体进行全阴极发光扫描,在所述2D扫描图片上标定不同阴极发光特征的颗粒点位包括:
选取所述岩石样品的充填物脉体的一处端点颗粒位置,通过所述2D扫描图片与阴极发光透射光视域颗粒形态、大小及相对位置的判断对比,点对点确定位置后进行阴极发光测试;
顺着所述岩石样品的充填物脉体排列方向顺序移动转换视域,直至将整个充填物脉体阴极发光特征测试完毕;
将所述2D扫描图片与视域对应,通过标记工具在所述2D扫描图片中标定所述颗粒点位。
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