[发明专利]显示面板的mura补偿方法及装置有效
申请号: | 201910538476.3 | 申请日: | 2019-06-20 |
公开(公告)号: | CN110189721B | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
发明(设计)人: | 肖光星 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂;王中华 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 mura 补偿 方法 装置 | ||
本发明提供一种显示面板的Mura补偿方法及装置。该方法通过在显示面板选取部分像素作为补偿像素,测量并存储每一个补偿像素对应的补偿数据,再根据各个补偿像素对应的补偿数据及与预设的三次样条插值算法计算显示面板中除补偿像素以外的其他像素的补偿数据。本发明利用三次样条插值算法计算显示面板中除补偿像素以外的其他像素的补偿数据,相比于传统的分区域进行线性插值的算法,能够使得图像过渡更平滑,减少锯齿,改善mura补偿效果,提升画面质量。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示面板的mura补偿方法及装置。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点,得到了广泛的应用。如:液晶电视、移动电话、个人数字助理(PDA)、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等,在平板显示领域中占主导地位。
现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器,其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在薄膜晶体管阵列基板(ThinFilm Transistor Array Substrate,TFT Array Substrate)与彩色滤光片基板(ColorFilter,CF)之间灌入液晶分子,并在两片基板上施加驱动电压来控制液晶分子的旋转方向,以将背光模组的光线折射出来产生画面。
由于液晶显示装置制程上的瑕疵,经常会导致生产出来的液晶显示装置的显示面板亮度不均匀,出现各种痕迹,即mura现象。为了提升显示面板的亮度均匀性,现有技术会对显示面板进行mura补偿(demura),具体为通过专业的测量相机拍摄液晶显示装置在显示画面,获取画面中心位置和周边位置亮度差异,得出补偿数据,使得周边位置亮度与中心位置的亮度一致。
为了节约存储空间,降低生产成本,现有技术中通常不会保存全部像素的补偿数据,而是将显示面板划分为多个区域进行压缩,每一个区域中选择一个像素的补偿数据进行保存,而其他像素的补偿数据则通过对保存的像素的补偿数据进行线性插值得到,但随着技术的发展,液晶显示装置的尺寸和分辨率的增长,现有技术采用的线性插值的补偿效果已经不能满足设计需要,补偿效果很差,图像过渡不平滑,锯齿严重。
发明内容
本发明的目的在于提供一种显示面板的Mura补偿方法,能够使得图像过渡更平滑,减少锯齿,改善mura补偿效果,提升画面质量。
本发明的目的还在于提供一种显示面板的Mura补偿装置,能够使得图像过渡更平滑,减少锯齿,改善mura补偿效果,提升画面质量。
为实现上述目的,本发明提供了一种显示面板的Mura补偿方法,包括如下步骤:
步骤S1、选取显示面板中的n个像素作为补偿像素,测量并存储每一个补偿像素对应的补偿数据,n为正整数;
步骤S2、根据各个补偿像素对应的补偿数据及与预设的三次样条插值算法计算所述显示面板中除补偿像素以外的其他像素的补偿数据;
步骤S3、根据各个像素对应的补偿数据对所述显示面板进行mura补偿。
所述步骤S1具体包括:
选定多个不同的灰阶作为测量灰阶;
测量并存储各个补偿像素在每一个测量灰阶下对应的补偿数据。
所述步骤S2具体包括:
根据各个补偿像素在每一个测量灰阶下对应的补偿数据及与预设的三次样条插值算法计算所述显示面板除补偿像素以外的其他像素在每一个测量灰阶下对应的补偿数据;
根据所述显示面板中各个像素在各个测量灰阶下的对应的补偿数据及预设的分段插值算法计算所述显示面板中各个像素在除各个测量灰阶以外的其他灰阶下的对应的补偿数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司,未经深圳市华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910538476.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。