[发明专利]一种应用化学发光分析仪防空吸、空排系统及方法

权利要求书

1.一种应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，其特征在于，吸样时包括以下步骤：

步骤10，为处理器设定液面探测波形预设衰减斜率和液面探测波形预设幅值；

步骤20，取样针探测到液面时，所述处理器开始计时；

步骤30，当液面探测波形衰减斜率小于所述预设衰减斜率，且液面探测波形幅值小于所述预设幅值时，所述处理器停止计时并记录计时时间；

步骤40，当所述计时时间小于或等于1.1s时，所述处理器判断所述取样针吸样正常，当所述计时时间大于1.1s时，所述处理器判断所述取样针空吸；

排样时包括以下步骤：步骤100，为所述处理器设定液面探测波形预设幅值；

步骤200，所述取样针排样时，所述处理器获取液面探测波形；

步骤300，当所述液面探测波形大于或等于所述预设幅值时，所述处理器判断所述取样针排样正常，当所述液面探测波形小于所述预设幅值时，所述处理器判断所述取样针排样空排。

2.根据权利要求1所述的应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，其特征在于，所述步骤20中：当所述取样针探测不到液面时，所述液面探测波形幅值小于所述预设幅值，此时停止吸样。

3.根据权利要求1所述的应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，其特征在于，所述步骤30中：当液面探测波形衰减斜率大于或等于所述预设衰减斜率，或者液面探测波形幅值大于或等于所述预设幅值时，所述处理器继续计时并再次收集液面探测波形信号。

4.根据权利要求1所述的应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，其特征在于，还包括步骤50：所述处理器判断所述取样针空吸后，所述处理器发出报错信号。

5.根据权利要求1所述的应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，其特征在于，还包括步骤400：所述处理器判断所述取样针空排后，所述处理器发出报错信号。

6.根据权利要求4或5所述的应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，其特征在于，所述化学发光分析仪还包括警报器，警报器接收所述报错信号并发出警报。