[发明专利]大尺寸工件的公差视觉检测方法、装置和计算设备在审
申请号: | 201910542808.5 | 申请日: | 2019-06-21 |
公开(公告)号: | CN110288651A | 公开(公告)日: | 2019-09-27 |
发明(设计)人: | 刘坚;夏思源;路恩会;刘向一;莫杰;钱锋;闫旻 | 申请(专利权)人: | 湖南大学;湖南瑞智健科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/70 | 分类号: | G06T7/70;G06T7/60;G06T7/13;G06T7/136;G01B11/00 |
代理公司: | 北京思睿峰知识产权代理有限公司 11396 | 代理人: | 谢建云;赵爱军 |
地址: | 410082*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大尺寸工件 公差 特征点 亚像素边缘 工件坐标 计算设备 目标部位 目标区域 视觉检测 特征轮廓 线段集合 安装孔 椭圆弧 集合 图像 直线型边缘 计算目标 轮廓跟踪 椭圆弧型 拟合 形位 | ||
1.一种大尺寸工件的公差视觉检测方法,适于在计算设备中执行,所述方法包括步骤:
获取所述大尺寸工件中某目标部位的图像,并从该图像中提取包含安装孔的感兴趣目标区域;
分别提取所述目标部位和目标区域的亚像素边缘,并对提取到的亚像素边缘进行轮廓跟踪,得到多个特征轮廓;
对所述多个特征轮廓进行直线型边缘和/或椭圆弧型边缘拟合,得到线段集合和/或椭圆弧集合;
提取所述线段集合和/或椭圆弧集合的至少一个特征点,并计算各特征点的工件坐标;以及
根据各特征点的工件坐标计算所述目标部位及其中各安装孔的形位尺寸和公差。
2.如权利要求1所述的方法,还包括步骤:
综合所述大尺寸工件的不同目标部位及其中各安装孔的形位尺寸和公差,计算所述大尺寸工件的形位尺寸和公差。
3.如权利要求1所述的方法,其中,所述从该图像中提取包含安装孔的目标区域的步骤包括:
将所述目标部位的图像转换为灰度图像,对该灰度图像进行自适应阈值分割,并从分割后图像中提取所述目标区域。
4.如权利要求3所述的方法,还包括步骤:
对所述目标部位的图像进行畸变校正,以及对所述灰度图像进行滤波处理和形态学处理。
5.如权利要求1-4中任一项所述的方法,其中,所述对提取到的亚像素边缘进行轮廓跟踪的步骤包括:
对所提取到的亚像素边缘进行Freenman链码跟踪,并过滤噪声边缘,得到多个特征轮廓。
6.如权利要求5所述的方法,其中,所述过滤噪声边缘的步骤包括:
分别设定面积阈值和长度阈值,并将实际面积小于该面积阈值、或者实际长度小于该长度阈值的特征轮廓设定为噪声边缘。
7.一种大尺寸工件的公差视觉检测方法,适于在计算设备中执行,所述方法包括步骤:
获取所述大尺寸工件的序列图像,所述序列图像包括所述大尺寸工件的不同部位的图像;
分别采用如权利要求1-6中任一项所述的方法对每帧序列图像进行公差视觉检测,得到不同部位的形位尺寸和公差;以及
综合所有部位的尺寸形位和公差,计算所述大尺寸工件的形位尺寸和公差。
8.一种大尺寸工件的公差视觉检测装置,适于驻留在计算设备中,所述装置包括:
目标区域提取模块,适于获取所述大尺寸工件中某目标部位的图像,并从该图像中提取包含安装孔的感兴趣目标区域;
特征轮廓提取模块,适于分别提取所述目标部位和目标区域的亚像素边缘,并对提取到的亚像素边缘进行轮廓跟踪,得到多个特征轮廓;
特征轮廓拟合模块,适于对所述多个特征轮廓进行直线型边缘/或圆弧形线段拟合,得到线段集合和/或椭圆弧集合;
特征点提取模块,适于提取所述线段集合和/或椭圆弧集合的至少一个特征点,并计算各特征点的工件坐标;以及
形位尺寸计算模块,适于根据各特征点的工件坐标计算所述目标部位及其中各安装孔的形位尺寸和公差。
9.一种计算设备,包括:
一个或多个处理器;
存储器;以及
一个或多个程序,其中所述一个或多个程序存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行,所述一个或多个程序被处理器执行时实现权利要求1-7任一项所述的方法的步骤。
10.一种存储一个或多个程序的计算机可读存储介质,所述一个或多个程序包括指令,所述指令当由计算设备执行时实现权利要求1-7任一项所述的方法的步骤。
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