[发明专利]深度的检测系统和方法在审

专利信息
申请号: 201910544426.6 申请日: 2019-06-21
公开(公告)号: CN110133676A 公开(公告)日: 2019-08-16
发明(设计)人: 杨萌;李建军;戴付建;赵烈烽 申请(专利权)人: 浙江舜宇光学有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 董文倩
地址: 315499 浙江*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 偏振 检测系统 偏振光 被测对象 成像设备 二维图像 光源装置 调制光 反射光 光出射 光强 反射光成像 处理单元 多次反射 入射 反射 发射 申请
【说明书】:

本申请提供了一种深度的检测系统和方法。该检测系统包括:光源装置,用于发射调制光;起偏设备,位于光源装置的光出射侧,起偏设备用于将调制光调整为具有预定偏振方向的偏振光;成像设备,位于起偏设备的光出射侧,成像设备用于根据入射的反射光成像,形成二维图像,反射光为被被测对象反射的偏振光;处理单元,用于根据反射光在第一偏振方向的光强与在第二偏振方向的光强的比值将二维图像中分为第一部分和第二部分,还用于根据第一部分和第二部分中的一个计算被测对象的深度,第一偏振方向和第二偏振方向不同。该检测系统得到的深度较为准确,避免该深度为经过多次反射的深度的和。

技术领域

本申请涉及构建深度图像领域,具体而言,涉及一种深度的检测系统和方法。

背景技术

飞行时间(Time of flight,简称TOF)测距是一种通过TOF传感器估算场景反射光返回成像镜头的时间或者相位变化从而构建深度图的技术。在当前手机领域中是用于AR、VR等虚拟现实体验以及人脸识别等生物识别应用的重要技术。

TOF装置一般包括光源和感测相机,其中,光源用于向场景发射脉冲光或者连续光。光源所发射的光从目标物体反射回到感测相机中。在这一过程中,光从光源到达目标物体再从目标物体返回感测相机的时间差或者相位变化,时间差或者相位差将反映目标物体中各个位置的距离,也就是深度信息。深度信息结合传统相机拍摄得到的图像就可以构建目标物体的3D模型,或者用于生物识别的人脸模型等。

利用TOF构建深度图像的方法有着硬件成本和功耗较低,反应速度快的优点,但其还存在检测距离短,深度检测精度低以及分辨率低等缺陷。

在背景技术部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的背景技术的理解,因此,背景技术中可能包含某些信息,这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种深度的检测系统和方法,以解决现有技术中深度的检测系统难以准确地获取被测对象的深度的问题。

为了实现上述目的,根据本申请的一个方面,提供了一种深度的检测系统,该检测系统包括:光源装置,用于发射调制光;起偏设备,位于所述光源装置的光出射侧,所述起偏设备用于将所述调制光调整为具有预定偏振方向的偏振光;成像设备,位于所述起偏设备的光出射侧,所述成像设备用于根据入射的反射光成像,形成二维图像,所述反射光为被被测对象反射的所述偏振光;处理单元,用于根据所述反射光在第一偏振方向的光强与在第二偏振方向的光强的比值将所述二维图像中分为第一部分和第二部分,还用于根据所述第一部分和所述第二部分中的一个计算所述被测对象的深度,所述第一偏振方向和所述第二偏振方向不同。

进一步地,所述处理单元包括:第一获取模块,获取所述反射光在所述第一偏振方向的光强与在所述第二偏振方向的光强的比值;确定模块,用于根据所述光强的比值将所述二维图像中分为所述第一部分和所述第二部分;计算模块,用于根据所述第一部分和所述第二部分中的一个的所述反射光和对应的调制光的相位差计算所述被测对象的深度。

进一步地,所述光源装置用于发射多种所述调制光,多种所述调制光的发射时间段相互间隔,所述成像设备根据入射的与多种所述调制光对应的多种反射光成像,形成多个所述二维图像,所述处理单元用于根据多个所述二维图像中计算所述被测对象的深度。

进一步地,多种所述调制光中,频率较大的所述调制光的振幅小于频率较小的所述调制光的振幅。

进一步地,所述处理单元还包括:第二获取模块,用于获取在时间上相邻的任意两种所述调制光的振幅的第一比值以及对应的两种所述反射光的振幅的第二比值,所述计算模块用于在所述第一比值与所述第二比值的差值在第二预定范围内的情况下,所述第一部分和所述第二部分中的一个的所述反射光和对应的所述调制光的相位差计算所述被测对象的深度。

进一步地,所述第一偏振方向和所述第二偏振方向垂直。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江舜宇光学有限公司,未经浙江舜宇光学有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910544426.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top