[发明专利]适用于麦克斯韦应力法BSRM精确建模的气隙细分方法有效
申请号: | 201910546463.0 | 申请日: | 2019-06-21 |
公开(公告)号: | CN110287586B | 公开(公告)日: | 2022-11-08 |
发明(设计)人: | 王燚;王宏华;路天航;张经炜;谭超 | 申请(专利权)人: | 河海大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F119/14 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 211100 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 适用于 麦克斯韦 应力 bsrm 精确 建模 细分 方法 | ||
1.一种适用于麦克斯韦应力法BSRM精确建模的气隙细分方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:
对BSRM定转子非重叠区域的气隙进行划分;
根据气隙划分结果计算气隙平均磁密对应的磁路长度;
气隙划分方法包括:
定义研究的定子齿极为定子2齿,所述定子2齿的顺时针方向相邻的齿极分别为定子1齿和转子1齿,所述定子2齿的逆时针方向相邻的齿极分别为定子3齿和转子2齿;
所述转子1齿、转子2齿和定子2齿完全不重叠时对应的上述各齿极间的气隙区域为定转子非重叠区域;
将所述定子1齿的上沿和定子2齿的下沿包围的气隙区域定义为气隙1;
将所述转子1齿的上沿和齿槽中线包围的气隙区域定义为气隙2;
将所述转子2齿的下沿和齿槽中线包围的气隙区域定义为气隙3;
将所述定子2齿的上沿和定子3齿的下沿包围的气隙区域定义为气隙4;
以气隙平均磁密对应的磁路为分界线分别将所述气隙1划分为气隙s1、气隙x1,所述气隙2划分为气隙s2、气隙x2,气隙3划分为气隙s3、气隙x3,气隙4划分为气隙s4、气隙x4;
以气隙平均磁密对应的磁路为分界线分别将所述气隙s1划分为气隙s1s、气隙s1x,所述气隙x1划分为气隙x1s、气隙x1x,所述气隙s2划分为气隙s2s、气隙s2x,所述气隙x2划分为x2s、x2x,所述气隙s3划分为气隙s3s、气隙s3x,所述气隙x3划分为气隙x3s、气隙x3x,所述气隙s4划分为气隙s4s、气隙s4x,所述气隙x4划分为气隙x4s、气隙x4x;
从所述转子1齿的上齿尖作线平行于定子2齿的下沿,从定子2齿的下齿尖作线平行于转子1齿的上沿,将此两线和转子1齿的上沿、定子2齿的下沿包围的气隙区域定义为主气隙1;
从转子2齿的下齿尖作线平行于定子2齿的上沿,从定子2齿的上齿尖作线平行于转子2齿的下沿,将此两线和定子2齿的上沿、转子2齿的下沿包围的气隙区域定义为主气隙2;
将所述定转子非重叠区域中除主气隙1和主气隙2外的气隙区域定义为边缘气隙。
2.根据权利要求1所述的一种适用于麦克斯韦应力法BSRM精确建模的气隙细分方法,其特征在于,所述气隙1平均磁密对应的磁路长度计算方法包括:
lm1=r(|θ|-τr),
式中,lm1为主气隙1的磁路长度,lf1为气隙1中对应的边缘气隙磁路长度,τr为定、转子齿极弧度,θ为转子1齿转角,r为转子半径,γ为转子1齿与定子1齿不重叠的齿极上任一点的法向量与α轴正方向的夹角;以定子轴心为原点、定子2齿中轴线为α轴、且β轴垂直于α轴建立坐标系,并定义定子轴心往定子2齿方向为α轴正方向;
所述气隙2、气隙3、气隙4的平均磁密对应的磁路长度的计算方法与气隙1平均磁密对应的磁路长度计算方法相同。
3.根据权利要求2所述的一种适用于麦克斯韦应力法BSRM精确建模的气隙细分方法,其特征在于,所述气隙s1平均磁密对应的磁路长度计算方法包括:
式中,θ1为气隙1平均磁密所在的磁路与转子1齿齿极的交点对应的法向量与α轴正方向的夹角;
所述气隙s1平均磁密对应的磁路长度计算方法同样适合气隙s2、气隙s3、气隙s4平均磁密对应的磁路长度的计算。
4.根据权利要求3所述的一种适用于麦克斯韦应力法BSRM精确建模的气隙细分方法,其特征在于,所述气隙s1s平均磁密对应的磁路长度计算方法包括:
式中,θs1为气隙s1平均磁密所在的磁路与转子1齿齿极交点对应的法向量与α轴正方向的夹角;
所述气隙s1s平均磁密对应的磁路长度计算方法同样适合气隙s2s、气隙s3s、气隙s4s平均磁密对应的磁路长度的计算。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河海大学,未经河海大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910546463.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。