[发明专利]一种零磁通浅层瞬变电磁测试线圈及其测试方法有效

专利信息
申请号: 201910549675.4 申请日: 2019-06-24
公开(公告)号: CN110187395B 公开(公告)日: 2020-12-01
发明(设计)人: 胡雄武;孟当当;肖玉林 申请(专利权)人: 安徽理工大学
主分类号: G01V3/10 分类号: G01V3/10
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 代理人: 杨敬
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 零磁通浅层瞬变 电磁 测试 线圈 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种零磁通浅层瞬变电磁测试线圈,包括发射线圈(1)和接收线圈(2),其特征在于,所述发射线圈(1)嵌套在接收线圈(2)的内部,并共面、同轴设置,所述接收线圈(2)包括外接收线圈(21)和内接收线圈(22)两个部分,所述外接收线圈(21)半径大于内接收线圈(22)半径,所述内接收线圈(22)半径等于发射线圈(1)半径;

所述内接收线圈(22)的半径a与外接收线圈(21)的半径b比值范围在之间;

所述外接收线圈(21)与内接收线圈(22)的线圈匝数比为:其中N21、N22分别表示外接收线圈的匝数和内接收线圈的匝数,φr2表示单匝内接收线圈(22)的总磁通量、φr1表示单匝外接收线圈(21)的总磁通量;

同时,所述发射线圈(1)与接收线圈(2)内部各匝之间均以串联方式相互连接;

所述测试线圈的绕制方法,包括如下步骤:

1)将发射线圈(1)以半径a绕制若干匝数;

2)接收线圈(2)以相同半径a按照与发射线圈(1)绕制相反方向绕制一匝形成内接收线圈(22)后,扩大至半径b按照发射线圈(1)绕制相同方向绕制一匝形成外接收线圈(21),再将接收线圈(2)缩小至半径a,并与发射线圈(1)相反方向绕制一匝形成内接收线圈(22);

3)重复步骤2)操作,直至绕匝完成。

2.根据权利要求1所述的零磁通浅层瞬变电磁测试线圈,其特征在于,所述外接收线圈(21)的匝数大于内接收线圈(22)的匝数。

3.根据权利要求1所述的零磁通浅层瞬变电磁测试线圈,其特征在于,所述发射线圈(1)和接收线圈(2)采用铜质漆包线绕制成圆环形或“回”形。

4.根据权利要求1所述的零磁通浅层瞬变电磁测试线圈,其特征在于,所述发射线圈(1)与接收线圈(2)采用相同制式和规格的漆包线。

5.根据权利要求1-4任一项所述的零磁通浅层瞬变电磁测试线圈的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)将零磁通线圈装置的引线接入到瞬变电磁仪或者对应的发射-接收端口;

2)在现场实测过程中根据工区环境和地质任务布设观测系统,并设置瞬变电磁仪器数据采集参数;

3)按照每条测线中测点的布置依次进行现场数据采集;

4)将采集到的数据进行保存并进行数据处理。

6.根据权利要求5所述的零磁通浅层瞬变电磁测试线圈的测试方法,其特征在于,所述数据采集过程为全程采集,所述数据处理采用全程视电阻率算法处理。

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